布鲁克的TEM PICOINDENTER系列 Hysitron PI95是首台能够直接在透射电子显微镜(TEM)内观察的深度感应纳米压痕设备.有了这种测试仪器,不仅能够对纳米级材料的力学响应进行成像,还可以同时获取载荷-位移数据.此外,集成视频接口允许在载荷-位移曲线和对应的透射电镜视频之间进行同步.
TEM PICOINDENTER系列 Hysitron PI95经过精心设计,可与 JEOL、FEI、日立和蔡司显微镜兼容。有了这种仪器,不仅能够对纳米尺度材料的力学反应进行成像,而且可以同时获取定量机械数据。集成的视频接口允许载荷-位移曲线和相应的 TEM 视频同步。
TEM PICOINDENTER系列 Hysitron PI95特别适用于纳米尺度现象的研究。在 TEM 中执行这些类型的研究可以明确区分力或位移瞬变的许多可能原因,这些原因可能包括错位爆发、相变、剥落、剪切带或断裂产生。
TEM PICOINDENTER系列 Hysitron PI95采用三级控制进行**定位和力学测试。除了三轴粗定位器和用于精细定位的三维压电调整器外,TEM PICOINDENTER系列 Hysitron PI95还配备了用于静电驱动的传感器和用于获取定量纳米级力学测试数据的电容位移传感器。
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