SQM-160 薄膜沉积监控器 英福康INFICON 进口检漏仪 苏州无锡常州武汉成都英福康INFICONSQM-160 薄膜沉积监控器 西安湖州青岛SQM
SQM-160 使用成熟的 INFICON 石英晶体传感器技术在薄膜沉积过程中测量速率和厚度。两个传感器输入为标准输入,另外四个传感器输入为可选输入。两个记录器输出提供模拟速度和厚度信号。 传感器输入可分配给不同的材料,在大型系统中平均分配以实现**的沉积控制,或者配置为双传感器。速率采样模式可在高速率过程中屏蔽传感器,从而延长传感器的使用寿命。速率显示为 0.1Å/s 或 0.01Å/s,用户可自行选择。此外,还可以选择频率或质量显示。凭借四个继电器输入,SQM-160 可控制来源或传感器屏蔽、信号时间和厚度设定点以及信号晶体失效。数字输入允许外部信号启动/停止和归零读数。
Standard: RS-232;
Optional: USB or Ethernet
Class 1 equipment,
73/72/EEC LVD, 89/336/EEC ECD
1/2-rack cabinet, 3-1/2" high,
89 x 213 x 197mm (3-1/2" x 8-1/2" x 7-3/4")
Provides remote setup and operation,
datalogging functions - see sample
screenshot at right.