日本日置 IM3523 LCR测试仪 日本日置 IM3523 LCR测试仪应用于生产线和自动化测试领域的理想选择 基本精度±0.05％，测量范围广泛(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA) 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。 内置比较器和BIN功能 2毫秒的快速测试时间 日本日置 IM3523 LCR测试仪不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接：交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637，不需要硬件控制器。
日本日置 IM3523 LCR测试仪
测量模式
LCR,连续测试
测量参数
Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
测量量程
100mΩ～100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程
Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [单位]* ～9.99999G [单位])(*为*高分辩率时的显示位数） 只有 Z和Y显示真有效值 θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.00000～9.99999) Q: ± (0.00～99999.9), Δ%: ± (0.0000%～999.999%)
基本精度
Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率
40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz)
测量信号电平
正常模式 V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA～50mArms,10μArms
输出阻抗
正常模式：100Ω
显示
单色LCD
测量时间
2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能
比较器，分类测量(BIN功能)，节点负载/补偿，记忆功能
接口
EXT I/O(处理器)，USB通信(高速) 选件：RS-232C,GP-IB,LAN任选一
电源
100～240V AC，50/60Hz，*大50VA
尺寸及重量
260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
附件
电源线×1，操作手册×1，CD-R(包括PC指令和样本软件)×1
粤公网安备 44030402001250号