测量外径光纤连接器与套圈测量IC部件的脚间距，宽度，间隙的测量轮间距的测量, 橡胶滚筒测量, 薄膜厚度测量形状测量, 精密轴测量, 插芯轴测量,同时测量电线，光纤，光轴XY同时测量光轴外径与跳动的同事测量钨钢捧外径与跳动的同事测量胶片厚度不均匀程度测量薄板厚度不均匀程度测量光盘的移动测量, 滚扎卷测量磁盘磁头的移动测量胶带寛度连续测量, 胶辊

FRT薄膜厚度测量仪采用膜层厚度测量传感器，非接触测量表面膜层，测量范围从10nm--250um，广泛应用于半导体晶片、光学镀膜加工、漆膜、氧化表面层测量。

leeb210/211涂层测厚仪是便携式涂（镀）层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂层（如油漆、防腐层）、镀层厚度的测量，也可进行薄膜厚度测量。

测量仪，测量膜层厚度从1nm到3.5mm。利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上*具性价比的膜厚测量仪设备。,岱美与Filmetrics有接近11年的合作关系，单是国内于过去4年已卖出超过170台不同型号仪器，在国内有多个服务处，有多位**工程师，保证能为客户提供及时的服务。美国Filmetrics光学膜厚

三辊机:辊子直径:50mm,辊子长度:150mm,辊子材质:硬度铬不锈钢/氧化铝,刮刀材质:不锈钢/塑料/氧化铝.产量-升/小时/第三根辊子上的薄膜厚度（微米）给定产量的*大速度:0.5 辊子直径

PEACOCK G-2型 厚薄計 薄膜厚度计 线材厚度计 厚度表 卡规 数显卡规 指针卡规 深圳代理批发供应商產品名稱： 厚薄計 產品型號： G-2 產　　地： 日本 品　　牌： PEACOCK 測,定範圍： 20mm *小讀值： 0.01mm 精　　度： 25μm 詳細規格說明： 測定喉深33mmΦ10mm陶瓷平面測頭

外径光纤连接器与套圈测量IC部件的脚间距，宽度，间隙的测量轮间距的测量, 橡胶滚筒测量, 薄膜厚度测量形状测量, 精密轴测量, 插芯轴测量超大辊轴外径的双机测量超大滚轴外径的双机测量, 树脂教官XY同时测量圆通间隙测量, 销规外径, 塞规外径, 数据输出,测量电线，光纤，光轴XY同时测量光轴外径与跳动的同事测量钨钢捧外径与跳动的同事测量胶片厚度不均匀程度测量薄板厚度不均匀程度测量光盘的移动测量, 滚扎卷测量磁盘磁头的移动测量胶带寛度连续测量, 胶辊测量

德国马尔mahr Millimar C1216M薄膜测厚仪，Millimar C1216M薄膜测厚仪是高精度型薄膜测厚仪，主要用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片等各种材料的厚度**测量。广泛应用于薄膜生产企业、质检机构、研究院校等对薄膜厚度有严格要求的领域

对基片进行固定，使得在涂布过程中基片无褶皱现象产生，从而使得涂布更加均匀顺畅。制膜宽度宽度保持不变，制膜厚度可根据刮刀上方的千分尺进行调节，刮刀与基片间的间隙小，则所制备薄膜厚度薄；刮刀与基片间的间隙大,，则所制备的薄膜厚度厚。制膜长度可根据刮刀的行程来控制，刮刀的行程可在10-290mm的范围内进行调节。MSK-AFA-I自动涂布机体积小巧，适合各个实验室中使用。,MSK-AFA-I自动涂布机广泛用于各种高温涂膜研究，例如陶瓷类薄膜、晶体类薄膜、电池材料薄膜、特殊纳米薄膜，能够适应未来高温条件下成膜技术的发展。MSK-AFA-I自动涂布机采用真空吸附方法来

塑料薄膜厚度测量仪 型号：VXMHY-10本仪器是采用高精度数显千分表测量塑料薄膜及薄片的专用仪器。具有测量精度高、数据稳定可靠等特点，同时还可进行英吋和毫米之间变换

仪器广泛应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量。,英国牛津仪器（Oxford）总代理方源仪器专业供应镀层测厚仪CMI 233。镀层测厚仪是高科技电子技术和软件的*佳组合，多功能、耐用的设计，专为适应*恶劣的工作环境而制造，典型应用于表面处理工业。该

超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪基于光谱反射原理， 即在一定的波长光波下，通过追踪被带有层状结构的基片反射和/或投射的光束来实现测量膜层厚度。测量薄膜厚度范围可达1nm -1000 um,。一般20ms可以得到测量结果。而且超高精度MProbe薄膜测厚仪尺寸非常小巧，8″x 4″x10″。超高精度 超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪非常适合实验室，产品质量检测，研发使用。

内工业水份测量的**。TF系列探头有三种功能，除测量水份含量之外还测量压力与温度值。这是基于多数水份测量参数的**测定需要知晓工艺过程的温度与压力。探头具有的氧化层薄膜厚度使得其显示真正的**湿度，而不