高温薄膜压样，高温薄膜制样 *高到400度Specac的等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定，根据热压制膜原理，所得到的样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同,需求，提供三种等厚度薄膜制样工具，不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还能将粒状，块状或板材，如药包材料，包装材料，特殊包裹材料等不规则的聚合物变成可以检测的薄膜。

左右可调制膜器-150mm可以同时调节涂膜的宽度和厚度。通过调节两端的千分尺，可以设定适合的刀片工作间隙，控制涂膜的厚度；通过调节刀片的宽度控制涂膜的宽度。广泛适用于实验室的膜材料研究，可以使陶瓷流延、电池电极以及各种涂膜制备以较低的成本获得**的薄膜。

数显测厚表|厚度计适用于测量珠宝、皮革、金属薄板、纸张、薄膜、金属丝和类似材料的厚度，数显读数方便，操作简单。

TFMS-LD是一款反射光谱薄膜测厚仪，可快速**地测量透明或半透明薄膜的厚度，其测量膜厚范围为15nm-50um，仪器所发出测试光的波长范围为400nm-1100nm。此款测试系统理论基础为镜面反射率，并且采用光纤反射探头。仪器尺寸小巧，方便于在实验室中摆放和使用。

产品用途：　　用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量，加长型测臂具有更大的测量深度。　　原理：在一定的面积与一定荷重下，测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。

ZH5922型高精度薄膜测厚仪适用于2mm范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度**测量。

方阻仪,方阻计,电阻仪方阻计是一种专用于测量塑料薄膜金属镀层方块电阻的仪器。由于方阻与镀层厚度成反比，也就可以由方阻计算出镀层厚度。仪器配有专用的、带弹簧的四探针探头。由于探针带弹簧，使得测试时压力恒定，接触可靠，测试稳定，寿命也长。

薄膜测厚测量软件LabCoat 是透明薄层或物料厚度测量软件，通过蔡司设计生产的二极管阵列概念，你可测量厚度由 100nm-100um 基於白光干涉谱理论。软件设计是日常生产操作设计，适宜於化验室及在线使用。操作简单容易，已被验证的计算法可用於高速运作，测量时间可短至一秒。

塑料薄膜厚度测定仪采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的**厚度测量。

机械测厚表326-301价格公道，常年出口北美市场，由仪器量贩提供，详情咨询021-53084218，测量范围0-10mm，测量珠宝、皮革、金属薄板、纸张、薄膜、金属丝等材料的厚度；苏州仪器网大量供应，欢迎选购326-301 参数价格。

英国牛津仪器（Oxford）总代理方源仪器专业供应CMI测厚仪。CMI测厚仪是高科技电子技术和软件的*佳组合，多功能、耐用的设计，专为适应*恶劣的工作环境而制造，典型应用于表面处理工业。该仪器广泛应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量。