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![日本funatech船越龙 FNA-35S检查灯_日本进口产口_四川成都重庆供应 FNA-35S](http://y3.yzimgs.com/uploads/492354/2017125-215456133.jpg?imageView2/2/w/200/h/200|watermark/2/text/5oiQ6YO96KW_6YeO6LS45piT5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4/font/5a6L5L2T/fontsize/300/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/SouthEast)
日本funatech船越龙 FNA-35S检查灯产品特点: FNA-系列的特点1.低价格。2.体积小,重量轻,移动方便。3.我可以进行测量和干涉检查细胞间隙的薄膜厚度测量。4.光源:35?90W专用灯管日本funatech船越龙 FNA-35S检查灯
![CHY-CA太阳能硅片厚度检测 CHY-CA](http://y2.yzimgs.com/uploads/398920/2017712-152639994.jpg?imageView2/2/w/200/h/200|watermark/2/text/5rWO5Y2X6LWb5oiQ55S15a2Q56eR5oqA5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4/font/5a6L5L2T/fontsize/300/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/SouthEast)
CHY-CA太阳能硅片厚度检测适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度**测量。CHY-CA太阳能硅片厚度检测
![薄膜测厚仪/薄膜厚度仪 型号CHY-CA 机械接触式测厚仪 CHY-CA](http://y2.yzimgs.com/uploads/398920/2016728-134028415.jpg?imageView2/2/w/200/h/200|watermark/2/text/5rWO5Y2X6LWb5oiQ55S15a2Q56eR5oqA5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4/font/5a6L5L2T/fontsize/300/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/Center)
薄膜测厚仪/薄膜厚度仪 型号CHY-CA 机械接触式测厚仪简介:薄膜测厚仪/薄膜厚度仪 型号CHY-CA 机械接触式测厚仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度**测量。仪器采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。
![英国AQUILA公司NKD7000/8000系列薄膜分析系统](http://y2.yzimgs.com/uploads/153/C10551.jpg)
1.波长范围:280nm-2500nm2.光谱分辨率:1或2nm (可选)3.层数:*多可至5层4.薄膜厚度范围:5nm - 20μm5.基体:透明,半透明或半吸收
![ES100塑料挤压和压膜测温系统 ES100](http://y1.yzimgs.com/uploads/189934/2008072903223071.jpg)
- 控制温度以保持正确的薄膜厚度和表面光洁均匀性,对压模螺栓加热器或压膜插销故障的检测。双轴定向薄膜压制 - 单点测温仪安装在成形筒处以控制冷却滚筒安装在预热和冷却设备处以控制加热和,ES100塑料挤压和压膜测温系统 ES100:监控片料压制和注塑薄膜处理过程的温度主要应用: 吹塑薄膜压制 - **的温度监控与适当的加热和冷却相配合,可以确保塑料的抗张力厚度均匀性。注塑薄膜压制
![PET真空镀铝膜 根据客户要求订做](http://y1.yzimgs.com/uploads/176725/200742315132593.jpg)
用途说明:广泛用于各种金、银卡纸的复合,印刷效果良好,适用于制作各类产品的外包装及与塑料薄膜复合制作各类产品包装袋。 ◆主要特点: ■优异的铝层复合牢度和光泽度 ■良好的油墨附着力 ■优异的阻隔性能。厚度、宽度及亮度可选用,广泛应用于食品、医药等包装行业,欢迎来电洽购。
![镀膜测厚仪 薄膜测厚仪 纳米厚度测量仪 镀层测厚仪 纳米测量仪 光学纳米测试仪 ST2000](http://y2.yzimgs.com/uploads/175621/2008101401283901.jpg)
产品的质量。 测量薄膜厚度有许多种方法。其中*常见的是基于机械技术的触针方法,显微镜技术和光学技术。 韩国科美公司的薄膜厚度测量系统,采用的是光学技术方法。因而由薄膜表面的反射光和基板表面反射光,厚度测量仪适用于研发和半导体,FPD,纳米技术,电子材料及特殊薄膜生产线中的薄膜测量.例如在半导体行业,需根据图样**地获取晶圆表面的各个薄膜沉积。薄膜测量系统是用来监控工序并通过测量薄膜的厚度决定
![MSP100 分光光度计即薄膜测厚分析系统 MSP100](http://y1.yzimgs.com/uploads/314038/2009092101285225.jpg)
?容易操作的软件与窗口 ?先进深紫外光学和坚固耐用的设计*高正常运行时间和*佳的系统性能 ?探测器阵列为基础的制度,以确保快速测量 ?负担得起的,便携式和小型台面设计 ?测量薄膜厚度和,折射率高达5微米大小的地区多层次 ?允许收购反射,传输和以毫秒为单位的吸收光谱 ?能力将用于实时光谱,厚度,折射率监测 ?系统配备了光学常数的综合数据库和图书馆 ?先进的软件允许用户使用每个电影或者