冷热冲击试验箱 - 广东海银试验装备有限公司

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三箱式冷热冲击试验箱 | 两厢式冷热冲击试验箱

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	两箱式温度冲击试验箱 HY-JK200G-H	两箱式温度冲击试验箱，用来测试复合材料及材料结构，在瞬间下经及高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，即以在*短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。两箱式温度冲击试验箱适用的对象包括金属、塑料、橡胶、电子...等材料，可作为其产品改进的依据或参考
	两箱式温度冲击试验箱 HY-JK80T-U	两箱式温度冲击试验箱根据待测试样的特殊性，分为两箱式动态冲击和三箱式静态冲击，系列既可作冷热冲击试验，也可以做单独高温或单独低温使用。广泛使用于航空航天、单位、电工电子、仪器仪表、材料设备、零部配件等模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的性测试提供可靠性试验、产品筛选等，同时可通过此试验，进行产品的质量控制
	两箱式温度冲击试验箱 HY-JK225G-U	两箱式温度冲击试验箱分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。测试其材料或产品对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害
	两箱式温度冲击试验箱 HY-JK252G-U	两箱式温度冲击试验箱又名冷热冲击机、高低温冲击试验机、冷热冲击试验机等。用于电子电器零组件、自动化零部件、汽车配件、金属、塑胶等行业。测试其材料对高低温反复抵拉力以及产品对其产品及材料进行高温与低温之间的瞬间变化环境下检验其各项性能指标
	两箱式温度冲击试验箱 HY-JK80G-U	两箱式温度冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害
	两箱式温度冲击试验箱	两箱式温度冲击试验箱，两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。测试其材料或产品对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，
	两箱式温度冲击试验箱	两箱式温度冲击试验箱又名冷热冲击机、高低温冲击试验机、冷热冲击试验机等。用于电子电器零组件、自动化零部件、汽车配件、金属、塑胶等行业。测试其材料对高低温反复抵拉力以及产品对其产品及材料进行高温与低温之间的瞬间变化环境下检验其各项性能指标。
	两箱式温度冲击试验箱	两箱式温度冲击试验箱用来测试复合材料及材料结构，在瞬间下经及高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，即以在*短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适用的对象包括金属、塑料、橡胶、电子...等材料，可作为其产品改进的依据或参考。
	两箱式温度冲击试验箱 HY-JK225G-Y	两箱式温度冲击试验箱用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温和极低温的连续环境下所承受的程度，借以在*短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害，适用的对象包括金属，塑料，橡胶，电子等等材料，可作为其产品改进的依据或参考。
	两箱式温度冲击试验箱 HY-JK80G-2HC	两箱式温度冲击试验箱是用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度是仪器设备。一般适用于电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性。如：产品在研制阶段可用于发现产品设计和工艺缺陷，在有些情况下也可用于环境应力筛选，剔除产品的早期故障。
	两箱式温度冲击试验箱 HY-JK50G-K	两箱式温度冲击试验箱是用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度是仪器设备。一般适用于电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性。如：产品在研制阶段可用于发现产品设计和工艺缺陷，在有些情况下也可用于环境应力筛选，剔除产品的早期故障。
	两箱式温度冲击试验箱 HY-JK225G-K	两箱式温度冲击试验箱是用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度是仪器设备。一般适用于电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性。如：产品在研制阶段可用于发现产品设计和工艺缺陷，在有些情况下也可用于环境应力筛选，剔除产品的早期故障。
	两箱式温度冲击试验箱 HY-JK150G-K	两箱式温度冲击试验箱分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。测试其材料或产品对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，
	两箱式温度冲击试验箱 HY-JK252T-2H	两箱式温度冲击试验箱用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温和极低温的连续环境下所承受的程度，借以在*短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害，适用的对象包括金属，塑料，橡胶，电子等等材料，可作为其产品改进的依据或参考。
	两箱式温度冲击试验箱 HY-JK150G-V	两箱式温度冲击试验箱使用范围：用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。
	两厢式冷热冲击试验箱 HY-COK80-2H	两箱式温度冲击试验箱分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。测试其材料或产品对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，
	两箱式温度冲击试验箱 HY-JK225G-Z	两箱式温度冲击试验箱分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。测试其材料或产品对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，
	两箱式温度冲击试验箱 HY-JK150G-Z	两箱式温度冲击试验箱，用来测试复合材料及材料结构，在瞬间下经及高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，即以在*短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。两箱式温度冲击试验箱适用的对象包括金属、塑料、橡胶、电子...等材料，可作为其产品改进的依据或参考
	两箱式温度冲击试验箱 HY-JK50G-X	两箱式温度冲击试验箱使用范围：用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。
	两箱式温度冲击试验箱 HY-JK36G-S	两箱式温度冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害。

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