三箱式冷热冲击试验箱 - 广东海银试验装备有限公司

产品资讯

请输入产品名称

噪声分析仪纺织检测仪器 Toc分析仪 PT-303红外测温仪转矩测试仪继电保护试验仪定氮仪

广东海银试验装备有限公司
新增产品 | 公司简介
注册时间：2022-03-01
联系人：
电话：
Email：

首页公司简介产品目录公司新闻技术文章资料下载成功案例人才招聘荣誉证书联系我们

产品目录

当前位置：

首页 > 产品目录 > 冷热冲击试验箱 > 三箱式冷热冲击试验箱

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	冷热冲击试验箱测试要求 COK-150T-3H	三箱式冷热冲击试验箱是根据用户要求设计制造，适用于航空、航太、**、舰船、电工、电子等产品整机及零部件的高低温冲击试验及高温或低温环境下的贮存和试验。供用户对整机(或部件)、电器、仪器、材料、涂层、镀层等作相应的气候环境加速试验，以便对试品或试品试验行为作出评价。特点利用低温及高温蓄冷热槽，依气缸阀门动作需要，将高温能量及低温能量送至到试验槽内，从而达到快速温度冲击效果，平衡调温控制系统(BTC)+特殊设计之送风循环系统，以PID方式控制SSR，使系统之加热量等于热损耗量，故能长期稳定的使用。
	冷热冲击试验箱 COK-252T-3H	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	三箱冷热冲击试验箱工作原理 COK-150-3H	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	冷热冲击试验箱工作原理 COK-252L-3H	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	冷热冲击试验箱两槽温度冲击 COK—150G—3H	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	冷热温度冲击三箱式试验箱 COK—80T—3H	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	电子产品冷热冲击试验箱测试 COK-252-3H-6	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	冷热冲击试验箱工作原理 COK-408-3H	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	三箱冷热冲击试验箱 COK-252-3H-32	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热��冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	冷热冲击循环试验箱 COK-252-3H-88	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	高低温冷热冲击两槽试验箱 COK—50—3H	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	高低温冷热冲击两槽式试验箱 COK—150—3H	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	冷热温度冲击两槽式试验箱 COK—80—3H	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	冷热温度冲击两槽式试验箱 COK—100—3H	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	冷热冲击试验箱温度冲击两槽 COK—800—3H	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	冷热冲击试验箱两槽温度冲击 COK—408—3H	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	温度循环冷热冲击两厢式 COK—150—3H	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	温度循环冷热冲击—两厢式 COK—80—3H	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	温度循环冷热冲击—两厢式 COK-150-3H	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。
	三厢式高低温循环冷热冲击 COK—408—3H	在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，借以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。

若网站内容侵犯到您的权益，请通过网站上的联系方式及时联系我们修改或删除