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快速温变试验箱
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非线性快速温变试验箱
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线性快速温变试验箱
产品图片
产品名称/型号
产品简单介绍
快速温变试验箱适用范围
LK-X800T
快速温变试验箱,作为现代材料科学、电子电器、航空航天及汽车工业等领域不可或缺的重要测试设备,其应用范围极为广泛且深远。该设备通过模拟产品在极端温度条件下的快速变化环境,以评估产品的耐候性、可靠性及使用寿命,为产品的设计优化、质量控制及市场准入提供坚实的数据支持。
非线性10°C快速温变试验
HY-150T-FX
快速温变试验箱适应于仪器、仪表、电工、电子产品提供电子零组件,成品、半成品、半导体、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价(快速变化).符合 MIL-STAND.IEC,JIS 测试规范
快速冷热交替温变试验箱
CK-1000TK/G
快速温变试验箱采用逆卡若循环,该循环由两个等温过程和两个绝热过程组成。其过程如下:制冷剂经压缩机绝热压缩到较高的压力,消耗了功使排气温度升高,之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换,将热量传给四周介质。后制冷剂经阀绝热膨胀做功,这时制冷剂温度降低。*后制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热,使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的。
线性快速温变试验箱 温变速率可定制
HY-800T-K/GK
快速温变试验箱适应于仪器、仪表、电工、电子产品提供电子零组件,成品、半成品、半导体、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价(快速变化).符合 MIL-STAND.IEC,JIS 测试规范
超快速温变 非线性20°C升降温
HY—800GK
快速温变试验箱适应于仪器、仪表、电工、电子产品提供电子零组件,成品、半成品、半导体、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价(快速变化).符合 MIL-STAND.IEC,JIS 测试规范
(非线性)快速温变试验箱
CK-800T/G-8
快速温变试验箱采用逆卡若循环,该循环由两个等温过程和两个绝热过程组成。其过程如下:制冷剂经压缩机绝热压缩到较高的压力,消耗了功使排气温度升高,之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换,将热量传给四周介质。后制冷剂经阀绝热膨胀做功,这时制冷剂温度降低。*后制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热,使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的。
**产品快速温变试验箱
HY-800T/G
快速温变试验箱适应于仪器、仪表、电工、电子产品提供电子零组件,成品、半成品、半导体、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价(快速变化).符合 MIL-STAND.IEC,JIS 测试规范
线性快速温变试验箱
CK-1000T/G
快速温变试验箱采用逆卡若循环,该循环由两个等温过程和两个绝热过程组成。其过程如下:制冷剂经压缩机绝热压缩到较高的压力,消耗了功使排气温度升高,之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换,将热量传给四周介质。后制冷剂经阀绝热膨胀做功,这时制冷剂温度降低。*后制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热,使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的。
非线性每分钟20°C快速温变试验箱
HY—800T-FX20 °C
快速温变试验箱适应于仪器、仪表、电工、电子产品提供电子零组件,成品、半成品、半导体、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价(快速变化).符合 MIL-STAND.IEC,JIS 测试规范
10°Cmin线性快速温变试验箱
HY-800TK/GK
快速温变试验箱适应于仪器、仪表、电工、电子产品提供电子零组件,成品、半成品、半导体、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价(快速变化).符合 MIL-STAND.IEC,JIS 测试规范
超快速温变 非线性10°C升降温
HY—225T-F10
快速温变试验箱适应于仪器、仪表、电工、电子产品提供电子零组件,成品、半成品、半导体、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价(快速变化).符合 MIL-STAND.IEC,JIS 测试规范
线性快速温变试验箱5℃/min
HY-225T/G
快速温变试验箱适应于仪器、仪表、电工、电子产品提供电子零组件,成品、半成品、半导体、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价(快速变化).符合 MIL-STAND.IEC,JIS 测试规范
5度线性快速温变试验箱
HY-1000TK/GK-9
快速温变试验箱适应于仪器、仪表、电工、电子产品提供电子零组件,成品、半成品、半导体、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价(快速变化).符合 MIL-STAND.IEC,JIS 测试规范
线性快速温变试验箱5min
HY-800TK/GK-5min
快速温变试验箱适应于仪器、仪表、电工、电子产品提供电子零组件,成品、半成品、半导体、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价(快速变化).符合 MIL-STAND.IEC,JIS 测试规范
超快速温变 非线性升降温
HY—225GK-10/min
快速温变试验箱适应于仪器、仪表、电工、电子产品提供电子零组件,成品、半成品、半导体、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价(快速变化).符合 MIL-STAND.IEC,JIS 测试规范
线性快速温变试验箱10min
HY-020TK/GK
快速温变试验箱适应于仪器、仪表、电工、电子产品提供电子零组件,成品、半成品、半导体、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价(快速变化).符合 MIL-STAND.IEC,JIS 测试规范
线性快速温变试验箱方法
HY-1000TK/GK-66
快速温变试验箱适应于仪器、仪表、电工、电子产品提供电子零组件,成品、半成品、半导体、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价(快速变化).符合 MIL-STAND.IEC,JIS 测试规范
线性快速温变试验箱15°c/min
HY-1000TK/GK-88
快速温变试验箱适应于仪器、仪表、电工、电子产品提供电子零组件,成品、半成品、半导体、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价(快速变化).符合 MIL-STAND.IEC,JIS 测试规范
线性快速温变试验箱/15min
HY-1000TK/GK-A
快速温变试验箱适应于仪器、仪表、电工、电子产品提供电子零组件,成品、半成品、半导体、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价(快速变化).符合 MIL-STAND.IEC,JIS 测试规范
上海快速温变试验箱
HY-225TK-88
快速温变试验箱适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元器件在温度快速转变的情况下检验产品的各项性能指标
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