电脑操控整个测量过程，选购：四探针法粉末测试平台提供全自动平台或手动操作平台两种； 选购配置四探针探头可以用于对涂层，薄膜，等半导体材料方阻的测量.本机采用双电组合测量方法. FT-341A双电四探针粉末电阻率测试仪,FT-341A双电四探针粉末电阻率测试仪采用高精度集成电路模块；全自动化焊接电路， 4.3吋液晶显示器，薄膜按键操作，整体大方，人体工学的结构设计，自带温度，USB，232通讯接口，高精恒直流恒流源,系统，提供四探针法和四端法两种测量模式并存，中英两种语言版本选择；选购：PC软件可以获得测试过程数据及变化图表曲线，包括压力与电阻，电阻率，电导率的变化关系，及报表生成，存储，打印等；PC软件能实现

SDY-4四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用仪器. 咨询电话：18602102632

RTS-8型数字式四探针测试仪 参数价格，是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器；仪器量贩现货大量供应，价格公道，欢迎选购021-53084218。

TH2661型四探针测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立电阻进行测量，USB接口可为用户提供远程控制及测试数据的统计和分析。

同惠TH2661手持式四探针测试仪可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立电阻进行测量，USB接口可为用户提供远程控制及测试数据

SB100A/21A四探针金属/半导体电阻率测量仪其为用户提供了使用SB100A/21进行四探针测试及实验的配套软件，可运行于PC机上，能兼容运行在Winxp和Win7系统中，用于自动获取实验台,的实验数据，并根据条件生成曲线和报表，辅助实验人员自动完成实验，直观的分析数据，获得实验结论，保存实验数据。本产品的电阻测量范围可达10-5—106Ω。

薄膜电阻测试仪，半导体材料电阻率仪，方阻测试仪: 薄膜电阻测试仪也叫薄膜电阻率测试仪，方阻测试仪，可以测量半导体材料的电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可,以对金属导体的低、中值电阻进行测量。仪器由主机、测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果由主机数码管直接显示。也可连接PC机由配套软件在PC机上操作，其数据可由软件显示、分析、保存和打印！

、铜材、石墨类产品涂层性质或具有类似性质的低阻值产品的测量，用于生产企业、高等院校、科研部门，航空航天材料检验及分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。FT-361FM系列低阻四探针粉末电阻率测试仪,FT-361FM系列低阻四探针粉末电阻率测试仪四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率，*小可以测试到1uΩ方阻值，是目前同行业中能测量到的*小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出；适用于铝粉、铝材、铜粉

8000系列工业在线电阻率仪是带微处理器的水质在线监测控制仪。该仪表广泛用于电厂、石油化工、冶金电子、矿业、纸业、半导体、医药、食品饮料；对水溶液的电阻率值和温度值进行连续监测和控制。

导电型号测试仪 热电法（便携，宽表面指针式） 型号：GDW3-STY-1用宽表面检流计指示型号方向，并可定量测出热电流的数值大小。仪器灵敏度可调，可在广泛的电阻率（从1000Ω·cm高阻单晶到10-4Ω·cm重掺单晶）范围内判别半导体材料型号。