FT-300Ⅳ半导体粉末电阻率测试仪 粉末电阻率测试仪 一、功能介绍：本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门，是检验和分析粉末样品质量的一种重要,开关面板，操作简单，耐用，符合人体工学操作规范.二、FT-300Ⅳ半导体粉末电阻率测试仪满足：YST 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法 第6部分 粉末电阻率的测定,的工具。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.使用薄膜按键

SB100A磁电阻薄膜的磁电阻测量仪SB100A/1四探针导体/半导体电阻率测量仪

该仪器适用于测量各种接地装置的接地电阻值，也可测量低阻半导体的电阻值，还可用于测量土壤电阻率和测量地电压。

TH2661型四探针测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立电阻进行测量，USB接口可为用户提供远程控制及测试数据的统计和分析。

玻璃铂电阻的电阻率随温度的变化而变化的现象称为热电阻效应厂当温度变化时，导体或半导体的电阻值会随温度变化，对金属来说，温度上升时，其电阻值将增大。玻璃铂电阻、云母铂电阻、内绕式陶瓷铂电阻、膜式铂电阻产品分析铂电阻的耐温高低取决于骨架的耐温质量和结构形式

防静电指套经过氯化处理,减少生产过程中残留的不挥发物和其他污染物表面电阻率:10的9次–10的11次使用范围: 广泛使用于电子行业,半导体行业,机电行业,LCD,光学行业等

霍尔效应测试系统由永磁磁铁或电磁铁、连接电缆、高精度恒流源、高精度电压表、高斯计、标准样品、样品操作板、系统软件组成。霍尔效应测试系统用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数,，这些参数是了解半导体材料电学特性必须的，因此霍尔效应测试系统是研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 实验结果由软件自动计算，可同时得到体载流子浓度、表载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等。

MKY-KDY-1A 便携式四探针电阻率测试仪

1、符合半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法。
2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体，也可测量薄硅片电阻率及方阻。
3,、电阻率测量范围复盖*常用的区段：0.01—199.9Ω·cm。（可添加电阻率小于0.5Ω·cm的报警功能）
方块电阻测量范围复盖*常用的区段：0.1—1999Ω/□。（可添加方块电阻小于5Ω/□的报警功能）
4、配置