SHSZ82四探针测试仪测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，扩散层薄层电阻。SHSZ82四探针测试仪换上特制的四探针测试夹具，还可对金属导体的低、中值电阻进行测量.片状薄层微电阻测试仪,.数字式四探针测试仪.数字式四探针测试仪.片状薄层微电阻测试仪。SHSZ82片状薄层微小电阻测试仪。SHSZ82片状薄层微小电阻测试仪。SHSZ82片状薄层微小电阻测试仪。SHSZ82片状薄层微小电阻测试仪

8000系列工业在线电阻率仪是带微处理器的水质在线监测控制仪。该仪表广泛用于电厂、石油化工、冶金电子、矿业、纸业、半导体、医药、食品饮料；对水溶液的电阻率值和温度值进行连续监测和控制。

半导体四探针电阻率测定仪ZH8468由直流电压电流源、直流数字电压表、四探针样品测试平台三部分组成。直流电压电流源：

TH2661型四探针测试仪可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立电阻进行测量，USB接口可为用户提供远程控制及测试数据的统计和

RTS-8数字式四探针测试仪按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 测量范围电阻率：10-4～105, Ω.cm(可扩展)；方块电阻：10-3～106 Ω/□(可扩展)；电导率：10-5～104 s/cm；电阻：10-4～105 Ω；欢迎选购，咨询电话：18916127201冯小姐

的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试专用仪器。 　　仪器以大规模集成电路为核心部件，采用旋扭式开关控制，及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术，使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。,四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。广泛用于半导体厂家、太阳能行业，还能满足科研单位的精密研究。四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准设计

小型手动探针台*小型手动探针台主要用于Wafer晶圆、液晶显示模组、LED外延片、其他半导体材料及器件的I-V测量、C-V测量、P-I-V脉冲测量、电阻率测量、光电测量、高频信号测量、高低温动态测试、可靠性测试等。

便携式电阻测定仪/便携式电阻率测试仪H19821便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。 它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。

　　仪器主要包括电气箱和测试架两部分，电气测试部分由高精度直流数字电压表和直流恒...

TH2661手持式四探针测式仪 TH2661型四探针测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立电阻进行测量，USB接口可为用户提供远程控制及测试数据的统计和分析