笔式万用表 LY118
笔式万用表 LY118

LY118 笔式万用表具有3000位计数功能,整机电路设计以专用高性能万用表IC为核心,具有智能化、高精度、高性能之特点,能完成测量或测试:AC/DC(交流/直流)电压、EF功能、电阻、二极管、导通性、电容等参数。有双重绝缘保护。深受广大群众喜爱。

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GUT-6000A數位IC測試器/数字IC测试仪 GUT-6000A
GUT-6000A數位IC測試器/数字IC测试

? Loop 測試? 自動搜尋 IC 編號功能? 開機自我偵測診斷功能? 過載保護功能 ? 可量測之 IC 種類超過 1800 種 ? 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS ? 4000 及 4500 系列 CMOS? *大可測 Pin 數 : 28 Pin

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冷热冲击试验箱
冷热冲击试验箱

冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力,及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。

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GUT-7000 集成电路测试仪 GUT-7000
GUT-7000 集成电路测试

GUT-7000 集成电路测试仪,显示幕 LCD 显示幕,1 行 16 个字,测试座 24pin IC socket 1个,10 个数字键 : 0~9 ,测试电压 ±5~±24V DC 。

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手持式集成电路测试仪 GWINSTEKGUT/7700
手持式集成电路测试

GWINSTEKGUT/7700手持式集成电路测试仪是一台類比IC測試器。GWINSTEKGUT/7700手持式集成电路测试仪提供空載偵測及自動關機功能. GWINSTEKGUT/7700手持式,集成电路测试仪可用電池操作, 且平均搜尋的時間只需0.8秒, 優異的特性讓GWINSTEKGUT/7700手持式集成电路测试仪成為類比IC測試的*佳選擇.GWINSTEKGUT/7700手持式集成电路测试

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显微维氏硬度计 THV-5
显微维氏硬度计 THV-5

THV-5显微维氏硬度计应用领域:· 适用于微小的零件、薄钢板、金属箔、IC薄片、**电线、薄硬化层和电镀层、玻璃、珠宝和陶瓷的检测· 还可用于测试材料强度,热处理,碳化层和淬火硬化层的深度· 执行标准:国家标准GB/T4340.1-1999 国际标准ISO 6507

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全自动燃烧试验机(垂直+水平) JX-9800
全自动燃烧试验机(垂直+水平) JX-9800

销售服务电话:0769-88953230全自动燃烧试验机(垂直+水平):本机适用于各种电线电缆绝缘被覆材料、印刷板材料, IC绝缘体 …… 等有机材料之耐燃烧性试验,试验时,将试件置于火焰顶端,燃烧, 15秒,熄灭15秒,重复5次后检查试件被焚情形。全自动型,可设定燃烧、熄灭时间及重复次数,并可自动操作。参考UL-62,1581测试规范。

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数位IC测试器 GUT-6600
数位IC测试

. 简单易操作 . 可测试:74/40/45/41/44 系列之数位 IC .轻巧省电、可用电池供电 .平均搜寻时间:0.8 秒 .LCD 显示幕:1行 16 个数字 .测试 Pins 数:14 ~ 24 Pins

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美国PNI 专用驱动IC 11096 驱动IC 11096
美国PNI 专用驱动IC 11096 驱动IC 11096

驱动IC 11096 测量方案。PNI11096具备高判断模式和测试振荡电路和计数电路的输出显示。 PNI11096覆盖了整个电路的测量,其中包括模拟和数字方块。每个传感器都会在其相应平行的磁场内进行实际的感应系数变化。为了

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NIB-3195AA/D测试仪/D/A测试仪 型号:NIB-3195A NIB-3195A
NIB-3195AA/D测试仪/D/A测试仪 型号:NIB-3195A

NIB-3195AA/D测试仪/D/A测试仪 型号:NIB-3195AA/D D/A测试仪是参考美国GR1731测试系统的模式,采用模块化结构,并继承了中小规模数字集成电路测试系统的优点而开发出的小型线性IC测试

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T-623F在线测试仪 T-623F
T-623F在线测试

T-623F在线测试仪**测试功能 自动学习、优化和调整测试方法 自动隔离 IC 漏插及方位检测 显示十个*多错误组件情况 重复测试 针号检索功能 自我诊断功能 T-623F在线测试

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苏州三箱式冷热冲击试验箱
苏州三箱式冷热冲击试验箱

及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具.,三箱式冷热冲击试验箱用途三箱式冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁

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掌上型数字IC测试器  wi12215
掌上型数字IC测试

丰富的数据www.winstrument.cn库,包含TTL, CMOS, Memory, Interface和CPU. ? 可测试40脚位以下的IC(从NAND gates 到CPU,) ? 搜寻unknown or unmarked IC组件编号.并找出因温度效应引发的 故障原因 ? 显示每一脚位测试结果 ? 由4颗AA电池供电,并具自动power off及低电压警示功能 ? 可外接A

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展位咨询:0756-2183795