ABI手持式线性IC测试器可测试16脚以内通用的模拟器件，包括运放、光耦、比较器、A/D、D/A、电压调节器及部分特殊模拟芯片。软件可升级

供应数字IC测试仪GUT-6000A

ICT-33C数字IC测试仪主要功能 :器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能

GUT-6600手持式数字IC测试仪

台湾固纬GUT-6600A IC测试仪 ．简单易操作．可测试：74/40/45/41/44 系列之数位 IC．轻巧省电、可用电池供电．平均搜寻时间：0.8 秒．LCD 显示幕：1行 16 个数字．测试 Pins 数：14 ~ 24 Pins 台湾固纬GUT-6600A IC测试仪 台湾固纬GUT-6600A IC测试仪

GUT-6000B数字IC测试仪可测试1800多种常见的TTL和CMOS器件，真正在数字IC测试领域实现一个机型测量所有器件的解决方案；GUT-6000B数字IC测试仪支持54/74系列TTL，支持4000和5000系列CMOS

BJ3125A数字IC测试系统

可测试TTL54/74、55/75、4000、45系列；常用RAM、EPROM、CPU接口电路、光电耦合器；LED等器件