菲希尔X射线测厚仪 X-RAY XUL
菲希尔X射线测厚仪

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE?-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱,它结构紧凑,小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层度和成分分析。菲希尔X射线测厚仪又名菲,希尔膜|X射线|荧光膜,X-RAY XUL系列分为固定平台的XUL和手动平台XUL-xym

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X射线测厚仪 FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210
X射线测厚仪

X射线测厚仪|X-RAY镀层分析|菲希尔X射线光谱FISCHERSCOPE?-X-RAY XDL-210是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱。它是从大众认可的FISCHERSCOPE, X-RAY XDL-B 型器上发展而来的。与上一代相类似,它尤其适合无损测量镀层度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。

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希玛超声波测厚仪AR850+/便携式测厚仪 AR850+
希玛超声波测厚仪AR850+/便携式测厚仪

希玛超声波测厚仪AR850+/便携式测厚仪测量物体度的表。在工业生产中常用来连续测量产品的度(如钢板、钢带、纸张等)。这类表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放度计;有利用超声波,频率变化的超声波度计;有利用涡流原理的电涡流度计;还有电容式度计等。而利用微波和激光技术制成度计,目前还处在研制、试验阶段。

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X荧光能谱仪Rohs检测仪 镀层测厚仪膜测厚仪 X荧光能谱仪
X荧光能谱Rohs检测 镀层测厚仪测厚仪 X荧光能谱

X荧光能谱 X荧光能谱Rohs检测 镀层测厚仪测厚仪美国赛黙飞世尔ThermoFisher(美国热电)能量色散X-射线荧光光谱(ED-XRF)

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CMI243涂层测厚仪
CMI243镀层测厚仪

牛津CMI243镀层测厚仪的特点:便携式、无损测量各种金属镀层CMI243镀层测厚仪精度高、稳定性好,测量精度可与X射线测厚仪媲美可测量各种微型部件(φ2.5mm)232接口,可连接打印机或电脑

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英国牛津仪器Oxford CMI243测厚仪膜厚仪 CMI243
英国牛津器Oxford CMI243测厚仪

英国牛津器Oxford CMI243测厚仪属于金属镀层度测量,它的测试精度结果足以媲美X射线荧光测厚仪。英国牛津器Oxford CMI243测厚仪器设计小巧、便于携带、可随,时随地实行全方位***的在线检测工件镀层度是否合格。检测领域在紧固件、螺丝、汽车部件、齿轮、管件等表面电镀层。

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台式β射线涂镀层测厚仪
台式β射线涂镀层测厚仪

台式β射线涂镀层测厚仪*应用在测量许多经典结构的镀层度,包括镍上镀金(Au/Ni),环氧树脂镀铜(Cu/epoxy),光致抗蚀剂photoresist,铜上镀银(Ag/Cu),科瓦铁钴镍合金上镀锡Sn/kovar,铁上镀氮化钛Ti-N/Fe,锡铅合金Sn-Pb。

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QNT-2非接触式测厚仪 QNT-2
QNT-2非接触式测厚仪

QNT-2非接触式测厚仪,便携式在线测厚仪一种基于γ射线穿透材料的透量随被测材料度变化的非接触式度计。它可以用于金属板和非金属板、带材的在线检测。也可以用于材料的在线自动度控制。由于该测厚仪

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CMI243 便携式金属镀层测厚仪 CMI243
CMI243 便携式金属镀层测厚仪

CMI243 便携式金属镀层测厚仪采用基于相位电涡流技术,CMI243手持式镀层测厚仪以友好的控制和可以与X射线荧光测厚仪媲美的准确、精密的测量而著称

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日立分析仪器CMI243螺栓紧固件测厚仪
日立分析器CMI243螺栓紧固件测厚仪

测厚仪成为紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位电涡流技术,日立分析器CMI243螺栓紧固件测厚仪以友好的控制和可以与X射线荧光测厚仪媲美的准确、精密的测量而著称。,日立分析器CMI243螺栓紧固件测厚仪是一款灵便易用的器,专为金属表面处理者设计,配置的单探头可测量铁质底材上几乎所有金属镀层。在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力,使这款镀层

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QNT-2测厚仪 QNT-2
QNT-2测厚仪

QNT-2系列度计,一种基于γ射线穿透材料的透量随被测材料度变化的非接触式度计。它可以用于金属板和非金属板、带材的在线检测。也可以用于材料的在线自动度控制。由于该测厚仪的高性能和低价

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X、γ射线个人剂量报警仪/射线检测仪、辐射仪  wi205
X、γ射线个人剂量报警/射线检测、辐射仪

检测 wi21170 射线检测 wi21171 射线荧光分析测厚仪 wi22041 射线荧光分析测厚仪 wi22043 射线荧光分析测厚仪, 防x、γ 射线套装 wi19300 一体式射线防护服(美国) wi19305 多功能射线 wi20524 X射线胶片 wi20545 射线检测 wi21168 射线检测 wi21169 射线

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