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![B-射线无损测厚仪 MP-900](http://y3.yzimgs.com/uploads/155981/2008012903040618.jpg)
可选配不同的放射源及探头, 广泛用于PCB及五金电镀行业,基本型MP-700:可测量一般的金属镀层,如AU,AG,SN-PB,CU,等。加强型MP-900:增加可测镍的功能.
![牛津X-Strata960射线测厚仪](http://y2.yzimgs.com/uploads/309929/TN_C32523.jpg)
X-Strata960测厚仪基于牛津仪器25年涂镀层测量经验,在CMI900系列测厚仪的坚实基础上,引进全新的设计;应用于电镀、涂镀、合金、薄膜和电镀液中Ti22-U92间元素的厚度和组成信息…
![镀层测厚仪,精工测厚仪,电镀测厚仪,镀层测量仪,SFT9200 SFT9200](http://y3.yzimgs.com/uploads/341147/2009120909215677.jpg)
名称:X射线镀层测厚仪,俗称膜厚仪,膜厚测试仪,X-RAY膜厚仪等等) 用途:检测金属镀层膜厚厚度的仪器,保证镀层厚度品质,减少电镀成本浪费 产品副名称:应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 产品型号,:SFT9200、SFT9250、SFT9255 技术参数:仪器的特长:广泛应用型可测元素:Ti~U X射線管:小型空气冷却型高功率X射线管球(W靶)管电压:45kV 管电流:1mA Be窗滤波器:一次
![韩国Micro Pioneer XRF-2000荧光金属镀层测厚仪](http://y1.yzimgs.com/uploads/341104/20100118044251.jpg)
X射线荧光测厚仪可用于测量一般工件、PCB及半导体产品的各镀层厚度全自动XYZ样品台;雷射自动对焦、自动对位;温度补偿;十字线自动调整五种report format可供选择
![镀层测厚仪 SFT9200](http://y1.yzimgs.com/uploads/340341/2010011111204054.jpg)
「SFT9200系列」继承了拥有了20多年历史及光辉业绩的「SFT系列」(操作性与可靠性共存)的优点,并不断地发展,成为可对应较广应用范围的X射线荧光镀层厚度测量仪[新标准机型]。
![美国BA100膜厚仪 BA100](http://y3.yzimgs.com/uploads/360898/2010121714034609.jpg)
BA100美国博曼膜厚仪也可称为膜厚测量仪,又称金属涂镀层厚度测量仪,BA100膜厚仪不同之处为其即是薄膜厚度测试仪,也是薄膜表层金属元素分析仪,因美国博曼膜厚计响应全球环保工艺准则,故目前市场上*普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。
![轧机测厚仪(无辐射) FJC-2X40](http://y1.yzimgs.com/uploads/349173/2010050515281147.jpg)
仪器。它结束了靠人工用分厘卡测量的历史。排除了因射线测厚所带来的严格防护手续、要求和昂贵的费用。特别适合满足中小企业解决手工测量金属板、带、箔材厚度用。操作简单、显示直观方便、设有公差超差报警。 , 上海交大海科(集团)有限公司,*新研制FJC-2X系列无辐射非接触金属测厚仪(轧机测厚仪)。是本着我国冷轧设备的实情,少花钱多办事的原则,在原来旧轧机上能安装测量仪器,而精心研制的“绿色”环保
![山东管道焊接检测,济南压力容器检测](http://y1.yzimgs.com/uploads/366013/201791-162056894.jpg?imageView2/2/w/200/h/200|watermark/2/text/5rWO5Y2X5YyX5Y2O55S15a2Q6K6-5aSH5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4/font/5a6L5L2T/fontsize/300/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/Center)
我厂主要产品有;钢结构无损探伤仪,焊缝探伤仪,管道焊接检测仪,压力容器探伤仪,涡流探伤仪,荧光磁粉探伤机,汽车修理厂通用探伤仪,铝型材涡流测厚仪,镀膜测厚仪,超声波测厚仪,超声波耦合剂,可视,探伤系统,铝塑钢门窗检测设备, 着色渗透探伤剂,X射线探伤机,铝塑钢门窗检测设备等。 为你提供第三方探伤检测服务。
![美国UPA便携式Beta射线无损测厚仪 Microderm CMS](http://y3.yzimgs.com/uploads/362832/2011012116364956.jpg)
世界上**款手持式β射线测量仪器**测量涂镀层厚度在生产线上可作为手持式仪器,在质量控制实验室可作为台式仪器使用● 多样化的探针和探针台设备可测量大多数不同尺寸和形状的样品● 菜单控制、友好操作界面
![供应镀层标准片 薄膜片 膜厚片 UPA](http://y1.yzimgs.com/uploads/396239/2012060617151862.jpg)
UPA和Calmetrics镀层标准片适用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray(X射线测厚仪)、 β-ray(β射线测厚仪)、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸。
![椭圆偏振测厚仪 TPY-1 型](http://y3.yzimgs.com/uploads/218/200695163333656.gif)
椭圆偏振测厚仪在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此,更加**和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数,如:布儒斯特角法测介质膜的折射率,干涉法测膜厚,其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。