1.高压发生器:25-50Kv2.样品室:60X380X370mm3.视窗:彩色,8X6cm4.样品台:马达驱动,Z方向60mm5.辐射**性:PTB测试,完全过失保护

适用于金属底材上各种涂层、镀层厚度的**检测，结合超声波涂层测厚仪、破坏式显微测厚仪、X射线测厚仪，就可以对各种样品膜厚作出**的检测，构成一个完整的膜厚测试体系

X-STRATA960荧光镀层厚度测量仪X-Strata960X荧光射线测厚仪，可快速测定各种材料构成的多层镀层厚度。长寿命100瓦微焦点X射…

X射线 所有的设备遵循ASTM B568， DIN 50 987和 ISO 3497等国家和国际标准。 制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的**处理和使用了*新的软件和硬件技术，X射线仪器具有其独特的特点。

基于25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进全新的设计： 新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的*强大的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间 更小的X射线

FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的**处理和使用了*新的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线仪器具有其独特,的特点。****的WinFTM?（版本3（V.3）或版本6（V.6））软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，同时可以对包含多达24种元素的材

HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的**处理和使用了*新的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线测厚仪具有其独特的特点。

X-射线荧光镀层测厚及材料元素分析仪 所 在 地： 德国 简单介绍： HELMUT FISCHER镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的**处理和使用了*新的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线仪器具有其独特的特点。

X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量 ，从质量管理到成本节约有着广泛的应用

菲希尔 X-Ray XAN-DPP射线测试仪**镀层测厚仪，可用于多镀层测量及物料分析。菲希尔 X-Ray XAN-DPP射线测试仪

【扩展名：元素分析仪、膜厚测试仪、镀层检测仪、镀层测厚仪、RoHS检测仪、合金分析仪等】英国牛津X-Strata980能量色散型X射线荧光光谱仪结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层,、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保**的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。

、测量仪、镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,无损测厚仪,镀膜测厚仪, 薄膜测厚仪、高精度测厚仪、便携式测厚仪, 测厚仪 产品详细介绍测厚仪防水卷材测厚仪根据：GB18242-2000及GB18243-2000标准要求专为防水卷材厚度测量而设计制造，可随身携带，手持则量。关键词：测厚仪、防水卷材测厚仪

HeLeeX E8 SuperX射线荧光光谱仪采用X射线荧光光谱法(XRF)分析样品的镀层厚度和RoHS检测，具有对样品无损、分析时间快、无耗材、维护费用低的优点，通常仅需30秒即可完成厚度分析,。镀层元素种类与分析层数均可根据客户需求进行配置。专用的分析软件除具有镀层测厚功能外，还可进行RoHS/ELV/无卤分析，是一款理想的RoHS检测仪器和镀层测厚仪器。