XD-8000能量色散X射线荧光光谱仪 XD-8000
XD-8000能量色散X射线荧光光谱仪

XD-8000能量色散X射线荧光光谱仪元素测定范围Na-U,含量范围1ppm-100%一次可以同时测定二十种以上元素,样品无损分析,任何不规则形状都可直接进行测量。本仪器采用美国进口Si-PIN探测器,摒弃液氮制冷.可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业,是企业质量控制的理想选择。

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Rhodamine Red-X(RRX) Goat Anti-Mouse IgG (H+L)  山羊抗小鼠
Rhodamine Red-X(RRX) Goat Anti-Mouse IgG (H+L) 山羊抗小鼠

上海拜沃生物拥有国内*全的二抗产品线,包括HRP标记、生物素标记、AP标记、FITC及各种荧光素标记二抗等,灵敏度高,背景低,质量稳定,价格优惠、包售后,我们有自己实验室提供技术支持、代做实验,。Jackson原装进口二抗,品质保证。115-295-003Rhodamine Red-X(RRX) Goat Anti-Mouse IgG (H+L) 山羊抗小鼠

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X荧光镀层测厚仪 CMI900
X荧光镀层测厚仪

CMI900镀层测厚仪特点: 精度高、稳定性好 强大的数据统计、处理功能 测量范围宽 NIS...

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X荧光镀层测厚仪 X-Strata960
X荧光镀层测厚仪 X-Strata960

X-Strata960 基于25年涂镀层测量经验,在CMI900系列测厚仪的坚实基础上,引进全新的设计: 新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的*强大的X射线管。提高30%测量精度,同时减少50%测量时间 更小的X射线

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屏幕亮度计 ST-86LA
屏幕亮度计 ST-86LA

ST-86LA屏幕亮度计;是为测量各种荧光屏和透射屏的亮度而专门设计的,它在电视、医用X射线、CRT及场致发光、荧光物质等测量方面有广泛的用途。*采用稳定性好、耐强光、耐冲击的硅光电池探测器,经严格

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X-RAY荧光测厚仪 FISCHER
X-RAY荧光测厚仪

FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的**处理和使用了*新的软件和硬件技术,FISCHER公司的X射线仪器具有其独特

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CMI900 X-荧光镀层测厚仪 CMI900
CMI900 X-荧光镀层测厚仪

CMI900 X-荧光镀层测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文

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X荧光光谱仪 UX-220
X荧光光谱仪

UX-220X荧光光谱仪快速应对RoHS&WEEE&无卤化指令,有效控制受限物质环保风险元素检测。

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偏振X射线荧光光谱仪 SPECTRO XEPOS
偏振X射线荧光光谱仪

XEPOS型偏振X射线荧光光谱仪可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、(汞)等元素分析,检出下限低,灵敏度高、稳定性好,可应对欧洲WEEE、RoHS指令。

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