手持式X荧光光谱仪 NITON XL2 800
手持式X荧光光谱仪

NITON XL2 800 合金成分分析仪(手持式X荧光光谱仪)是一款为你量身定做的X 射线的荧光光谱仪。NITON XL2 800 合金成分分析仪集速度,准确,可靠为一体,NITON XL2, 800X射线荧光光谱仪加上硬件,软件,直接的行业经验,必定会满足你特定的检测要求。NITON XL2 800 合金成分分析仪是一款通过**的**,并处于**的具有实践解决方案的手持式XRF仪器。

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EDX  P2000A手持式X射线荧光光谱仪 EDX  P2000A
EDX P2000A手持式X射线荧光光谱仪

EDX P2000A手持式X射线荧光光谱仪是由3V生产的用于现场分析的手持式X射线荧光光谱仪。它的主要用途是用于现场合金分析。该仪器是市场上*小,*快,*实用和*准确的XRF分析仪

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手持式XRF荧光光谱仪 X-MET8000S
手持式XRF荧光光谱仪 X-MET8000S

X-MET8000S 手持式XRF荧光光谱仪/手持式合金成分分析仪/元素含量检测仪X-MET8000S由Oxford Instruments下属的工业产品分公司研究、设计和制造,世界500强日立公司于2017年7月收购,了牛津仪器工业分析部门,牛津手持光谱仪品牌正式更名为日立仪器HITACHI。手持式XRF荧光光谱仪X-MET8000S型是一款为客户量身定做的X射线的荧光光谱仪。它集速度,准确,坚固和易用为一体,加上硬件,软件的多年行业经验,满足你对检测的所有要求。

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ElvaX台式X射线荧光光谱仪
ElvaX台式X射线荧光光谱仪

ElvaX台式X射线荧光光谱仪

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美国伊诺斯Innov-X小型台式X射线衍射仪 XRD-BTX XRD-BTX
美国伊诺斯Innov-X小型台式X射线衍射仪 XRD-BTX

美国伊诺斯Innov-X小型台式X射线衍射仪 XRD-BTX是一款小型台式X射线衍射(XRD)和X射线荧光(XRF)分析仪,由美国伊诺斯公司(Innov-X)开发生产.作为美国宇航局火星基础地质考察专用设备,颠覆了传统大型台式机XRD的基本构造,具有独特的技术特点和使用特点。

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能量色散X荧光光谱仪600 EDX600
能量色散X荧光光谱仪600

能量色散X荧光光谱仪600测量范围 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt 测镀层厚度、精度:0.03um

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X荧光光谱仪 EDX8000
X荧光光谱仪

X荧光光谱仪、能量色散X荧光光谱仪、X荧光分析仪、ROHS检测仪、ROHS测试仪

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模拟示波器OS-3100G OS-3100G
模拟示波器OS-3100G OS-3100G

CRT - 显示屏幕 : 6' 矩形CRT带内部格线(graticule), 8x10div.(1div = 1cm) 测量刻度, 在中轴上有2mm微刻度. 加速电压 : 约+10.5kv, (ref. Cathode) 荧光粉 : P31 聚焦 : 有 旋转追踪 : 有 加强控制 : 有 Z-轴输入(加强调制) - 输入信号 : 正向信号减少 +5Vp-p或更多信号在普 通强度设定下的加强调制

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MicronX X荧光测厚仪 MicronX
MicronX X荧光测厚仪

MicronX X荧光测厚仪MicronX 设计的有如下特点:●精密的光学系统变焦, 激光辅助聚焦, 和计算机发生的十字线能对极小的部件和结构精密定位。●应用界面的设计者用户可用图标板创建专用的应用

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便携式合金分析仪 S1 TURBO SD
便携式合金分析仪 S1 TURBO SD

S1 TURBO合金分析仪是Bruker公司推出的新一代产品,是迄今为止灵敏度和精度*高的仪器。它**次把应用于大型台式X射线荧光手持式合金分析仪器的SDD探测器应用于手持式仪器中,大幅度提高了

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 美国路阳LUV-400大面积辐照长波紫外线灯 LUV-400
美国路阳LUV-400大面积辐照长波紫外线灯 LUV-400

LUV-400紫外线灯为输出中心波长为365nm的大面积辐照长波紫外线灯,LUV-400紫外线灯又叫黑光灯、探伤灯,LUV-400的38cm处照射面积为61x25cm,中心强度高达10000uw/cm2,它是渗透检测、荧光探伤、晶圆表面微粒检测的**设备!

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Ux-290 能量色散X荧光光谱仪/ROHS检测仪 Ux-290
Ux-290 能量色散X荧光光谱仪/ROHS检测仪

采用能量色散X荧光分析技术(EDXRF),实现多种元素同时测量。采用多种措施优化光路设计和配置,保证了特征X射线的探测效率。采用50W侧窗X射线管,功耗低、寿命长,对轻重元素均有较高的激发效率。

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X荧光多元素分析仪  AN2100
X荧光多元素分析仪

的水泥行业专用X荧光能谱分析仪——AN2100。 AN2100成功利用了光谱仪的“分光技术”,能完全分开Si、Al等相邻元素,提高了Si、Al分析的准确度与测量精度

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