X荧光光谱仪、能量色散X荧光光谱仪、X荧光分析仪、ROHS检测仪、ROHS测试仪

MicronX X荧光测厚仪MicronX 设计的有如下特点：●精密的光学系统变焦， 激光辅助聚焦， 和计算机发生的十字线能对极小的部件和结构精密定位。●应用界面的设计者用户可用图标板创建专用的应用

S1 TURBO合金分析仪是Bruker公司推出的新一代产品，是迄今为止灵敏度和精度*高的仪器。它**次把应用于大型台式X射线荧光手持式合金分析仪器的SDD探测器应用于手持式仪器中，大幅度提高了

LUV-400紫外线灯为输出中心波长为365nm的大面积辐照长波紫外线灯，LUV-400紫外线灯又叫黑光灯、探伤灯，LUV-400的38cm处照射面积为61x25cm，中心强度高达10000uw/cm2，它是渗透检测、荧光探伤、晶圆表面微粒检测的**设备！

采用能量色散X荧光分析技术（EDXRF），实现多种元素同时测量。采用多种措施优化光路设计和配置，保证了特征X射线的探测效率。采用50W侧窗X射线管，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率。

X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。方源牛津仪器XRF镀层测厚仪MAXXI 6配备多准直器系统及超大样品舱，针对较薄

MaXXi RoHS X荧光镀层测厚仪 可测量厚度范围： 22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82...

44X1 44X1多用途生物显微镜 可广泛用于医院等部门作生物学、**学、组织学、**化学等学科的研究、实验、鉴定和教学之用，可配有投影筒、荧光垂直照明、五人示教、暗示场聚光镜、相衬装置、描绘器、摄影装置、微分相衬干涉等附件。

X荧光射线膜厚分析仪是利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层/镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。

销售服务**:0769-88953230荧光光谱仪/X荧光光谱仪/X射线荧光谱仪/水泥行业专用重金属检测仪BX-100C小型多道X射线荧光光谱仪是采用波长色散技术的多种元素同时**定量的分析 仪器

技术参数 重量：1.6kg 尺寸：30cm(L) x 10cm(W) x 28cm(H) 操作系统：HP掌上电脑,Windows Mobile5.0 操作语言：12种以上语言(含中文) 电源：可交、直流供电； 　　　充电锂电池，可连续工作6-8小时 数据传输：USB, 存储卡, 蓝牙

能量色散X射线荧光光谱仪－SPECTRO PHOENIX II 广适合对固体、液体、糊状、浆状或粉末状样品的元素成分进行定量和定性分析，测量范围从Mg - U。