Phasics近红外波前分析仪SID4-SWIR
近日，法国Phasics为满足客户需求，推出四波横向剪切干涉技术和高性能InGaAs探测器的高性价比SID4-SWIR近红外波前分析仪，波段范围900-1700nm，采样点数量高达5120（80*64），灵敏度2nm，动态范围100μm，采样频率120Hz。
SID4-SWIR近红外波前分析仪具有非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。
关于Phasics：法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析等提供了全新的解决方案。 法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求。
关于上海屹持：上海屹持光电技术有限公司作为Phasics中国区域代理商，同时也是一家专业从事激光领域相关产品的研发、引进、销售、方案设计、组装集成、技术服务的现代高科技企业。团队成员具有专业光电背景和长期从业经验，利用自身的专业优势将科研设备及服务提供给用户。从单个产品到整体解决方案，从商务服务到技术支持，均获得了广大用户的肯定和信赖。
Phasics近红外波前分析仪SID4-SWIR主要应用领域：
1. 激光光束参数测量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直径，泽尼克/勒让德系数
2. 自适应光学：焦斑优化，光束整形
3. 元器件表面质量分析：表面质量（RMS，PtV，WFE），曲率半径
4. 光学系统质量分析：MTF, PSF, EFL, 泽尼克系数, 光学镜头/系统质量控制
5. 热成像分析，等离子体特征分析
6. 生物应用：蛋白质等组织定量相位成像
Phasics波前分析仪产品列表：
型号
SID4
SID4-HR
SID4-DWIR
SID4-SWIR
SID4-SWIR-HR
SID4-NIR
SID4-UV
波长
400-1100nm
3~5, 8~14µm
0.9~1.7 µm
0.9 ~ 1.7 µm
1.5 ~1.6 µm
250~450 nm
孔径mm
3.6 × 4.8
8.9 × 11.8
13.44 × 10.08
9.6 × 7.68
7.4 × 7.4
分辨率μm
29.6
68
120
60
采样点
160 × 120
400 × 300
80 × 64
160*128
160×120
250 × 250
动态范围
> 100 µm
> 500 µm
N/A
~ 100 µm
> 200 µm
精度
10 nm RMS
15 nm RMS
75 nm RMS
> 15nm RMS
20 nm RMS
灵敏度
< 2 nm RMS
< 25 nm RMS
<2nm RMS
< 11nm RMS
2 nm RMS
采样频率
> 100 fps
> 10 fps
> 50 fps
120 fps
60 fps
30 fps
处理频率
10 Hz
3 Hz
20 Hz
> 7 Hz
> 2 Hz
尺寸mm
54×46×75.3
54×46×79
85×116×179
100×55×63
44×33×57.5
53 × 63 × 83
重量
250 g
1.6 kg
455 g
455
450 g