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上海屹持光电技术有限公司
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波前分析仪
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产品简单介绍
Phasics 波前分析仪
SID4系列
Phasics SID4系列 波前传感器基于其波前测量砖利技术,即4 波横向剪切干涉技术。(4-Wave LateralShearing Interferometry)。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上,这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围上乘结合在了一起。任何应用下,其都能实现**、简便、快速的测量。
Phasics高分辨近红外波前分析仪
SID4-SWIR-HR
近日,法国Phasics为满足客户需求,推出基于砖利的四波横向剪切干涉技术和高性能InGaAs探测器的高性价比SID4-SWIR近红外波前分析仪,波段范围900-1700nm,采样点数量高达5120(80*64),灵敏度2nm,动态范围100μm,采样频率120Hz
phasics 波前传感器
SID4
基于Phasics四波横向剪切干涉砖唎技术,SID4波前分析仪具备了很高的的相位和强度分辨率(160x120测量点),且使用简便
phasics 8-14μm高精度波前传感器
SID4-Lwir
基于Phasics砖唎的四波横向剪切干涉技术和焦平面非冷却相机的phasics SID4-Lwir 8-14μm高精度波前传感器工作范围在长波红外8-14μm,结构紧凑,易于集成到光学平台用于长波红外激光束和光学元件测试。
phasics 波前传感器
SID4 IR-MCT
SID4 IR-MCT集成了 Phasics四波横向剪切干涉砖唎技术和新一代冷却MCT探测系统。这种独特的波前像差分析仪提供了一个非常高分辨率和超高灵敏度,波长范围跨越中波和短波红外范围(从1.2到5.5µµm m)。非常适合微弱光红外光源,如物镜和透镜测试的黑体源或FTIR激光束测量。
Phasics 波前传感器
SID4-Dwir
基于Phasics砖唎的四波横向剪切干涉技术,SID4-Dwir涵盖了中红外和远红外波段(3-5,8-14µm)。在中波红外和长波红外范围具备高分辨率(160×120个测量点)。非常适合红外目标与镜头测试或红外激光束测量(CO2,OPO激光…)。
Phasics 波前传感器
SID4 UV
Phasics利用其砖砾的四波横向剪切干涉技术,在紫外波前测量提供了优良的解决方案。它有非常高空间分辨率(250x250测量点)和高灵敏度(2 nm RMS)。这确保了UV镜头,表面和UV激光束测试的**性。由于它小巧,易于使用,能有效地适应各种实验条件。
Phasics 高分辨波前传感器
SID4-HR
基于Phasics四波横向剪切干涉砖利技术,SID4-HR波前分析仪提供了一个非常高的相位和强度高分辨率(400x300测量点)图。由于它测量发散光束不需要中继镜头,简单对齐即可测试光学元器件。其高分辨率确保结果的重复性。高分辨率还开辟了波前传感的新用途:等离子体密度测量,相位成像显微…
Phasics 波前传感器
SID4-UVHR
Phasics利用其砖利的四波横向剪切干涉技术,在紫外波前测量提供了优良的解决方案。它有非常高空间分辨率(250x250测量点)和在190-400nm范围具有高灵敏度(0.5 nm RMS)。因此,SID4-UVHR是完全适用于光学元件的特性(用于光刻技术、半导体…)和表面检查(透镜和晶片…)。由于它小巧,易于使用,能有效地适应各种实验条件。
近红外波前传感器
SID4-Swir
基于Phasics砖利的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器,提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外,SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm,这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。
真空环境波前分析仪
SID4-V
法国PHASICS为满足广大客户在真空环境中对激光光束质量,气流,等离子体密度测量分析,以及光学系统装配的需求。法国Phasics推出了真空环境波前分析仪SID4-V,是目前市场上仅有一款可应用于真空度在10-6 mbar环境中的波前分析仪。真空环境波前分析仪广泛应用于高功率激光测试中。
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