波前分析仪 - 上海屹持光电技术有限公司

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	Phasics 波前分析仪 SID4系列	Phasics SID4系列波前传感器基于其波前测量砖利技术，即4 波横向剪切干涉技术。（4-Wave LateralShearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围上乘结合在了一起。任何应用下，其都能实现**、简便、快速的测量。
	Phasics高分辨近红外波前分析仪 SID4-SWIR-HR	近日，法国Phasics为满足客户需求，推出基于砖利的四波横向剪切干涉技术和高性能InGaAs探测器的高性价比SID4-SWIR近红外波前分析仪，波段范围900-1700nm，采样点数量高达5120（80*64），灵敏度2nm，动态范围100μm，采样频率120Hz
	phasics 波前传感器 SID4	基于Phasics四波横向剪切干涉砖唎技术，SID4波前分析仪具备了很高的的相位和强度分辨率（160x120测量点），且使用简便
	phasics 8-14μm高精度波前传感器 SID4-Lwir	基于Phasics砖唎的四波横向剪切干涉技术和焦平面非冷却相机的phasics SID4-Lwir 8-14μm高精度波前传感器工作范围在长波红外8-14μm，结构紧凑，易于集成到光学平台用于长波红外激光束和光学元件测试。
	phasics 波前传感器 SID4 IR-MCT	SID4 IR-MCT集成了 Phasics四波横向剪切干涉砖唎技术和新一代冷却MCT探测系统。这种独特的波前像差分析仪提供了一个非常高分辨率和超高灵敏度，波长范围跨越中波和短波红外范围（从1.2到5.5µµm m）。非常适合微弱光红外光源，如物镜和透镜测试的黑体源或FTIR激光束测量。
	Phasics 波前传感器 SID4-Dwir	基于Phasics砖唎的四波横向剪切干涉技术，SID4-Dwir涵盖了中红外和远红外波段（3-5，8-14µm）。在中波红外和长波红外范围具备高分辨率（160×120个测量点）。非常适合红外目标与镜头测试或红外激光束测量（CO2，OPO激光…）。
	Phasics 波前传感器 SID4 UV	Phasics利用其砖砾的四波横向剪切干涉技术，在紫外波前测量提供了优良的解决方案。它有非常高空间分辨率（250x250测量点）和高灵敏度（2 nm RMS）。这确保了UV镜头，表面和UV激光束测试的**性。由于它小巧，易于使用，能有效地适应各种实验条件。
	Phasics 高分辨波前传感器 SID4-HR	基于Phasics四波横向剪切干涉砖利技术，SID4-HR波前分析仪提供了一个非常高的相位和强度高分辨率（400x300测量点）图。由于它测量发散光束不需要中继镜头，简单对齐即可测试光学元器件。其高分辨率确保结果的重复性。高分辨率还开辟了波前传感的新用途：等离子体密度测量，相位成像显微…
	Phasics 波前传感器 SID4-UVHR	Phasics利用其砖利的四波横向剪切干涉技术，在紫外波前测量提供了优良的解决方案。它有非常高空间分辨率（250x250测量点）和在190-400nm范围具有高灵敏度（0.5 nm RMS）。因此，SID4-UVHR是完全适用于光学元件的特性（用于光刻技术、半导体…）和表面检查（透镜和晶片…）。由于它小巧，易于使用，能有效地适应各种实验条件。
	近红外波前传感器 SID4-Swir	基于Phasics砖利的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器，提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。
	真空环境波前分析仪 SID4-V	法国PHASICS为满足广大客户在真空环境中对激光光束质量，气流，等离子体密度测量分析，以及光学系统装配的需求。法国Phasics推出了真空环境波前分析仪SID4-V，是目前市场上仅有一款可应用于真空度在10-6 mbar环境中的波前分析仪。真空环境波前分析仪广泛应用于高功率激光测试中。

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