激光调制及测量 - 上海屹持光电技术有限公司

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	SID4bio活细胞定量相位分析仪	SID4bio 活细胞定量相位分析仪是世界上较早具有超高的测量灵敏度的成像设备，是一种**性的新型科研设备，为很多生物以及医学应用研究铺平了前进的道路。
	硅片厚度测量仪 SIT-200	SIT-200硅片厚度测量仪具有高灵敏度、高精度、快速测量、远程控制的优势
	飞秒光学参量振荡器器 TOPOL	TOPOL是一个同步泵浦飞秒光学参量振荡器（OPO）
	紫外-中远红外相位延迟可调谐波片 PO-TWP	中远红外相位延迟可调谐玻片是一种新型的相位延迟板（波片），在商用的光偏振测量和控制方法上具有突破性的进展，紫外型的相位板调节波段范围从150nm-6000nm，红外型的调节范围从1μm-19μm。这个新型的一个相位延迟板可以替代数十个传统相位板。这是市场上目前砖利的存在，同时也提供了非常竞争力的价格。
	中远红外线栅偏振片 EW	中远红外线栅偏振片透过平行于透射轴的光，同时阻挡垂直于透射轴的光。上海屹持光电全息线栅偏振片的光谱范围覆盖2 - 30 µm。它们使用BaF2、CaF2、KRS-5 (溴碘化铊)或ZnSe红外透明材料制备，通过全息方法在基底上制备线性凹槽。然后将金属沉积在这些凹槽上形成线栅。偏振方向平行于线栅的光会被吸收和反射，所以透射光的偏振方向与线栅垂直。金属线的方向使用刻线标记。这不同于我们其它的线栅偏振片
	WinCamD-LCM – 1" 光束质量分析仪
	Femto easy BeamPro光束质量分析仪	法国Femto easy的BeamPro系列光束质量分析仪（上海屹持光电代理）。所有CCD都经过激光专家精心筛选和验证，以满足各种激光束测量的需求。基于像素大小、检测区域、波长范围、紧凑度或预算等决定性标准。该系列的光束分析仪搭载了一款专用的全功能激光束分析软件，为用户提供了一个高性能、用户友好、定制化，可以为各种应用场景带来可靠且可重复的测量数据的解决方案。
	Duma光束质量分析仪 Beam on	DumaDuma Optronics 公司于1989年成立于以色列，是一家专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司。其生产的光束质量分析仪产品类型丰富，功能**。
	光束质量分析仪 BeamOn WSR	可测量光谱范围宽 190nm-1600nm 连续，脉冲激光均可测量 USB2.0通讯接口 2D/3D实时测量显示可测光束能量分布，外形轮廓，位置。实时的数据记录和统计软件操作方便快捷，便于在线应用
	BeamAnalyzer刀口式光束质量分析仪 BA3	BeamAnalyzer刀口式光束质量分析仪 l 12 bit A/D201712201730.png l 同时高分辨率采样模式 l 实时检测光束质量、尺寸和高斯拟合 l 实时显示光束2D/3D图像 l 测量光束的中心、椭圆度和功率 l Excel数据存储，RS232或TCP/IP数据传输 l 可保存快照图像 l 自动验证分析报告
	光束质量分析仪 BeamOn	l 独特技术：宽的动态范围 l 连续脉冲都可测量 l 宽的波长响应范围，从紫外到红外（190nm-1550nm） l 友好的软件操作，具有完整的联机帮助程序 l 实时显示光束2D/3D图像，检测光束尺寸和高斯拟合
	宽带2-16微米中远红外光束质量分析仪 WincamD	宽带2-16微米中远红外光束质量分析仪产品具有以下特点：宽带2-16μm微测热辐射计、640 x 480, 10.88 x 8.16 mm探测器、17 µm 像元大小、USB3.0,3米数据线、7.5Hz频率、自动化NUC集成快门14-bit ADC、 14 ms积分时间��脉冲测量重复频率可达1kHz、无需斩波器和TEC制冷、加套件可用于M2测量
	Phasics 波前分析仪 SID4系列	Phasics SID4系列波前传感器基于其波前测量砖利技术，即4 波横向剪切干涉技术。（4-Wave LateralShearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围上乘结合在了一起。任何应用下，其都能实现**、简便、快速的测量。
	Phasics高分辨近红外波前分析仪 SID4-SWIR-HR	近日，法国Phasics为满足客户需求，推出基于砖利的四波横向剪切干涉技术和高性能InGaAs探测器的高性价比SID4-SWIR近红外波前分析仪，波段范围900-1700nm，采样点数量高达5120（80*64），灵敏度2nm，动态范围100μm，采样频率120Hz
	phasics 波前传感器 SID4	基于Phasics四波横向剪切干涉砖唎技术，SID4波前分析仪具备了很高的的相位和强度分辨率（160x120测量点），且使用简便
	phasics 8-14μm高精度波前传感器 SID4-Lwir	基于Phasics砖唎的四波横向剪切干涉技术和焦平面非冷却相机的phasics SID4-Lwir 8-14μm高精度波前传感器工作范围在长波红外8-14μm，结构紧凑，易于集成到光学平台用于长波红外激光束和光学元件测试。
	phasics 波前传感器 SID4 IR-MCT	SID4 IR-MCT集成了 Phasics四波横向剪切干涉砖唎技术和新一代冷却MCT探测系统。这种独特的波前像差分析仪提供了一个非常高分辨率和超高灵敏度，波长范围跨越中波和短波红外范围（从1.2到5.5µµm m）。非常适合微弱光红外光源，如物镜和透镜测试的黑体源或FTIR激光束测量。
	Phasics 波前传感器 SID4-Dwir	基于Phasics砖唎的四波横向剪切干涉技术，SID4-Dwir涵盖了中红外和远红外波段（3-5，8-14µm）。在中波红外和长波红外范围具备高分辨率（160×120个测量点）。非常适合红外目标与镜头测试或红外激光束测量（CO2，OPO激光…）。
	Phasics 波前传感器 SID4 UV	Phasics利用其砖砾的四波横向剪切干涉技术，在紫外波前测量提供了优良的解决方案。它有非常高空间分辨率（250x250测量点）和高灵敏度（2 nm RMS）。这确保了UV镜头，表面和UV激光束测试的**性。由于它小巧，易于使用，能有效地适应各种实验条件。
	Phasics 高分辨波前传感器 SID4-HR	基于Phasics四波横向剪切干涉砖利技术，SID4-HR波前分析仪提供了一个非常高的相位和强度高分辨率（400x300测量点）图。由于它测量发散光束不需要中继镜头，简单对齐即可测试光学元器件。其高分辨率确保结果的重复性。高分辨率还开辟了波前传感的新用途：等离子体密度测量，相位成像显微…

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