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东莞市天测光学设备有限公司
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zeisss三坐标测量机
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产品简单介绍
二手进口测量仪器租赁维修升级
micro.vu
Micro-Vu于1959年在美国加州成立,60余年来Micro-Vu的影像测量仪在国际市场广受好评,是全球占有率高的高精度影像自动测量仪。好的性能、精度、速度、标准化生产,具有同级别产品价格优势及同类产品好性价比。 全球超过40,000万台的销售成绩。其产品适用于光电与太阳能、手机、笔电,电脑及周边、CCD摄像头模组、 显示屏与触控面板、橡塑胶、PCB&FPC、医疗、半导体、 航空航天、汽车/机车、精密模具、冲压、自动化及周边等所有要求精密之各个行业,所有产品符合ISO/IEC ANSI /NCSL MIL-STD等标准,并提供追溯及再校验之认证。
好产出好精度好尺寸测量系统
VIEW Pinnacle 250
VIEW Pinnacle 250影像测量仪有着非某凡的精度和生产率,优某异的MTBF性能,以及在同类型自动测量系统中某低的购置成本。其独某特的可编程多色环形灯(PRL)选项运用红、绿、蓝、白LED照明,可轻松应对难的应用。新型的直性运动控制技术造就了运行速度快、可靠的免维护平台,满足从无尘室到工厂车间的生产环境中,大容量、高性能的操作。
好精度的尺寸测量系统
VIEW Pinnacle+Plus
Pinnacle+Plus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件,使测量微电子零件和组件时产生尽可能低的不确定性. 好的线性马达控制技术造就了运行速度快,可靠的免维护平台,满足了从无尘室到工厂车间的生产环境中,大容量,高性能的操作。
大容量运输三轴式测量系统
VIEW Benchmark 624
VIEW Benchmark 624 是 QVI旗下一款大容量式全自动三轴尺寸测量系统.® VIEW Benchmark 624 的移动桥式结构和光学可使被测组件某始某终保持静止状态
进口大尺寸平台测量系统
VIEW Benchmark XLT
QVI 旗下 VIEW Benchmark XLT 是一款稳定可靠的大行程非接触式计量系统。 XLT拥有从900毫米X1500毫米到1500毫米X2000毫米的延伸行程范围,可以测量大面积组件和多个小组件的组合群体。好的光学,照明,以及图像处理功能使XLT成为好的计量系统。
VIEW BenchMark 250美国进口QVI光学影像测量仪
BenchMark 250 是一款应用广的量测系统,拥有测量大模型所有尺寸的性和能,行程300X150X150 mm。Benchmark可测产品范围大,可用于Q/A lab检测。 Benchmark 250 拥有好精度X-Y 工作台,view特有的双重光学放大性能,安装可选激光传感器使其成为一款好的测量系统。 Benchmark 250 非常适合测量多种类型的产品部件,包括注塑部件、机械部件、电子元件组装、半导体封装、光纤器件或150mm 以内的晶圆产品。 VIEW BenchMark 250美国进口QVI品牌光学影像测量仪 VIEW BenchMark 250美国进口QVI品牌光学影像测量仪
美国进口QVI VIEW BenchMark 450
VIEW BenchMark 450 美国进口QVI VIEW Benchmark 450 好价值、好精度影像测量系统 VIEW Benchmark 450非接触式光学测量仪体现了VIEW的能力和风范。其450 x 450 mm的大行程平台,既适合测量大号的工件,也可一次批量测量多个小零件组。好的光学、照明、可选配的TTL激光、以及好的图像处理能力使Benchmark 450成为很好的计量系统。
VIEW Summit 450/600/800 美国进口光学影像仪
VIEW Summit 450/600/800 美国进口光学影像仪 VIEW Summit 600 大量程、好精度影像测量系统 VIEW Summit的好精度和迅捷的测量速和度专为近线生产工艺监控和 质量保和证应运而某生。其200 mm/秒的XY平台移动速某度以及可选配的X-Y 无阻力线性马达驱动(可达400mm/秒),保证了车间环境中很高的生产力。
VIEW Precis 200 美国QVI好精度影像测量仪
VIEW Precis 200 高精度三维测量系统 来自于QVI集团的VIEW Precis 200是一款应用于晶圆、掩膜版、MEMs和HDD正面的高精密测量系统。该款Precis结合了精密工作台、可某靠的显微光学系统和可选的测量软件套装,具备为过程测量提供新某水平的能力。
美国进口 VIEW MicroLine 300 桌上型半自动CD测量系统
美国进口 VIEW MicroLine 300 桌上型半自动CD测量系统 美国进口 VIEW MicroLine 300 桌上型半自动CD测量系统 MicroLine 300 关键尺寸的自动化光学测量系统 MicroLineTM 300是一款高性能测量晶圆、光罩、MEMS和其他微加工设备等关键尺寸的自动化测量系统。该系统配备了高质量光学显微镜和精密移动平台,可对200mm的晶圆上0.5μm到400μm的特征尺寸进行全自动的精密视场测量。
QVI美国GAO精密光学影像测量仪 VIEW Pinnacle 250
美国QVI好精密光学影像测量仪 VIEW Pinnacle 250 好牌 Pinnacle250 全自动非接触式影像测量仪是一款好速度、好精度的光学非接触式三维坐标影像测量仪,适用于工艺过程控制测量和质检检测应用。
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