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产品资料

VIEW Precis 200 美国QVI好精度影像测量仪

VIEW Precis 200 美国QVI好精度影像测量仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:VIEW Precis 200 美国QVI好精度影像测量仪
  • 产品型号:
  • 产品展商:QVI/VIEW
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简单介绍
VIEW Precis 200 高精度三维测量系统 来自于QVI集团的VIEW Precis 200是一款应用于晶圆、掩膜版、MEMs和HDD正面的高精密测量系统。该款Precis结合了精密工作台、可某靠的显微光学系统和可选的测量软件套装,具备为过程测量提供新某水平的能力。
产品描述


高精度三维测量系统

测量软件:
IEW Metrology Software (VMS)
选配: Elements 测量软件
选配: Measure-X 测量软件

 

选配软件模块:
• 区域多极聚焦
• SmartProfile® 3D GD&T 评测软件
• 先进的图像滤波,图像拼接,用户自定义界面
• VMS 离线工作站软件
• 数字 IO

 

特征

 

 

标配

选配

 

X,Y,Z行程(mm)

200 x 200 x 5

200 x 200 x 100

 

XY载物台

Hand crafted, precision lapped compound stage

 

Z轴

Micro Focus Block™  microflexure focus assembly

扩展Z轴运动,精密空气轴承运动和线性马达驱动

 

X,Y,Z刻度分辨率

0.01μm

 

载物台驱动

X,Y轴连杆驱动直流伺服;Z轴旋转直流伺服

 

推荐负载

12 kg

 

成像光学

Olympus显微镜光学系统, 包含卧式明暗场照明器,五孔电动物镜转盘,带目镜倾斜三目观察筒和标准摄像机接口

 

前透镜(可现场更换)

10X明场物镜
50X长工作距离明场物镜

5X明场物镜或明暗场物镜
10X明场物镜或明暗场物镜
20X长工作距离明场物镜或明暗场物镜
50X长工作距离明场物镜或明暗场物镜
100X长工作距离明场物镜或明暗场物镜

 

测量相机

140万像素 (1392 x 1040), 1/2-inch, 数码,
黑白摄像机

200万像素(1628 x 1236), 数码,黑白摄像机

 

照明装置

全光谱、可调节卤钨同轴表面光

带N.A.调节绿色LED透射光

 

传感器选项

 

Integrated photo spectrometer for photoresist and thin film thickness measurements

 

操作系统

四核处理器, Windows ® 7 操作系统,集成网络和通信端口

 

控制器配件包

3轴操作杆控制手动载物台, 带急停按钮和开始按钮

单LCD 平板显示器, 键盘和鼠标
双LCD 平板显示器, 键盘和鼠标

 

电源供应

115/230 VAC, 50/60 Hz, 1-Phase, 700W

 

额定环境

温度: 20°C ± 0.2°C
相对湿度: 30% - 80%
振动: ISO VC-B

振动: 使用150X物镜时ISO VC-C

 

X,Y线性精度1,2,3,4

E1:  (0.25+2L/1000) μm

 

 

Z轴线性精度1,2,5

E1:  (0.25) μm (使用100x物镜)

 

说明:所有参数均是在20°C恒温环境下得到

1.温度变化率: 1° C/小时;2. 垂直温度梯度: 1° C/m
3. 在匀速状态下均匀分布载荷5KG
4. XY区域accuracy artifact:在标准测量平面QVI网格分划板或者QVI线条刻度。定义25mm工作台表面为标准测量平面。
5. Z轴 accuracy artifact: QVI step gage, interferometer or master gage blocks

 

 

 

Precis的应用范围包括:
半导体/电子
PCB板与Stencil
光罩
引线框,引线接合,柔性线路板,连接器
SMT元件贴装
锡膏/环氧数脂胶点
芯片载体和托盒
喷墨打印机墨盒

 

数据存储
磁盘介质基板
滑块和悬臂组(HGA)
Wafer carriers and row bar pallets

 

精密注塑和机加工件
模具和刀具
医疗设备
燃料喷射部件
手表组件


VIEW Precis 200 美国QVI品牌高精度影像测量仪

Precis 主要用于以下应用:
亚微米测量:
◆   微器件和电子元器件封装、引线框
◆   微型球状引脚栅格阵列封装
◆   硬盘驱动臂、探针卡、刀片
- CD 和套刻测量:
◆  线宽、涂覆层
◆   MEMS 器件、接触窗、喷墨打印头
◆   硬盘驱动头、磁头等


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