美国QVI高精密光学影像测量仪 VIEW Pinnacle 250 好牌
美国QVI高精密光学影像测量仪 VIEW Pinnacle 250 好品牌
Pinnacle 设备可以运行操作一个或多个View Micro-Metrology的标准计量软件程序:
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VIEW Metrology Software (VMS™) 是基于Pinnacle+Plus的，并提供多种标准测量工具以及内置脚本语言，可以满足客户各种功能需求。
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Elements® CAD-to-Measure software 在Pinnacle+Plus上是可选功能，在测量程序中可以自动翻译2-D CAD 文件，一些很复杂的产品也可以实现快速建立测量程序。
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Measure-X® 可选测量软件， 通过测量直观的点，常规界面来指导使用者。
X,Y,Z 测量范围 (mm) :250 x 150 x 50
X,Y,Z 刻度分辨率: XY - 0.05 μm, 零膨胀材料
Z- 0.01μm, 零膨胀材料
平台驱动: 光滑,高速线性马达驱动X&Y, 直流伺服马达驱动Z
速度 : X,Y- 200 mm/sec ， Z- 250 mm/sec
载重 : 25 kg
影像组件 : 单一放大,出厂配置安装延伸管和附加光学镜头
计量相机 :
标准:1.4 兆像素 (1392 x 1040), 1/2-英寸,数码, 单色
可选:1.4兆像素 (1392 x 1040), 2/3-英寸,数码, 单色
2.0 兆像素 (1628 x 1236), 1/2-英寸,数码, 单色
照明:
标准: 可编程LED照明系统，同轴底光，面光
可选: 多色可编程环形光，可控制入射角度，栅格自动聚焦系统
传感器选项:
标准: 无
可选:TTL 激光;
光深范围的探针;
离轴三角测量激光
控制组件:
标准:三轴操纵杆手动控制平台，带停止和开始按钮
可选: 单一LCD平板显示器, 电脑键盘鼠标
双液晶平板显示器，电脑鼠标键盘
测量模式:高速移动测量 (MAM) ，连续图像捕获(CIC)
系统配置:多核处理器, Windows® 7 操作系统，可连接网络，通讯端口
电源要求 :115/230 VAC, 50/60 Hz, 1-Phase, 1500W
相关环境: 温度: 18°-22° C. | 湿度: 30% - 80% | 振动小于 15Hz: <0.0015g
XY 精度: E2 =(1.0+5L/1000) µm
Z线性精度:
标准:E1 =(1.5+5L/1000) µm E1
可选: (1.0+5L/1000) µm (with TTL laser and 5X lens)
注意事项:
所有规格参数适用于热稳定仪器和20°C认证温度
1. 温度变化: 1° C/Hour |
2. 垂直温度梯度: 1° C/Meter
3. 额定速度下均匀分布的负载： 5KG
4.XY精度: QVI® 栅格线(low expansion material) or QVI标准面线性刻度尺， 标准测量面是指工作平台上25mm范围
5.Z轴精度: QVI 步距规, 干涉仪或主量块
Pinnacle250 全自动非接触式影像测量仪是一款高速度、高精度的光学非接触式三维坐标影像测量仪，适用于工艺过程控制测量和质检检测应用。
Pinnacle250 全自动非接触影像测量仪适用范围：
◆Flip chip、BGQ、QFP、QFN、MCM等先进封装间距、线宽、角度、弧度、高度等尺寸测量
◆ SMT组装装配、PCB&FPCB挠性电路等关键尺寸测量
◆ 丝网印刷的孔径、位置、厚度、角度等测量
◆ Bump on die、Solder Paste、 光纤关键尺寸测量
◆IC & LED封装引线架Lead frames、探针卡角度、间距、高度等测量
◆ LED SMD封装测量，包括胶高、间距等测量
◆PhotoMask、MEMS晶圆级检测、关键尺寸测量等应用
Pinnacle 250非常适用于对测量精度有很高要求的应用场合。如微电子组装、装配、精密冲压模具以及芯片封装等。
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