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产品简单介绍
Film sense薄膜厚度椭偏仪
Film Sense 多波长椭偏仪通过简单的 1 秒测量,可以以极高的精度和精度测定大多数透明薄膜的薄膜厚度和折射率并对许多样品进行光学常数 n&k 等薄膜性质的测量。多波长椭偏仪提供了强大的薄膜测量功能售价只是单一波长椭偏仪和光谱椭偏仪的中等水平。Film Sense 偏仪非常适合在研究实验室教室,现场处理室,工业质量控制等等。
F50薄膜厚度均匀性测量仪
依靠F50先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得*大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台,确保能够做成千上万次测量。
Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪
不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装,通过USB连接电脑,设备就可以在数秒内得到测量结果。基于某模块化设计的特点,F20适用于各种应用。
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