不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于某模块化设计的特点，F20适用于各种应用。
测量厚度从 1nm 到 10mm 的先进膜厚测量系统
不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于模块化设计的特点，F20适用于各种应用。
F20能测量什么
薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光学常数、均匀性、刻蚀量等
薄膜种类：几乎所有透明及半透明薄膜，常见如氧化物、聚合物甚至空气
薄膜状态：固态、液态和气态薄膜都可以测量
薄膜结构：单层膜、多层膜；平面、曲面
膜层范例
基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。
这包括几乎所有的电介质与半导体材料，例如：
SiNX TiO2 DLC
光刻胶SU-8 聚合物 有机电致发光器AIQ材料
非晶硅 ITO 硒化铜铟镓CIGS
软件功能以使用者为导向
随设备包含的FILMeasure软体组合为您提供了极大控制程度并切合您的需求。需要进行更深入的薄膜研究。FILMeasure软件已内建数干种不同材料的数据库，也让您能够很容易地测量新材料的折射率。
1. 搭配可选配的样品摄像头，能在测量的过程中整合测量点位置并识别样品。
2. 互动式的使者界面能让用户选择想要显示或隐藏的功能。
3.全方位的历记录功能可以让用户迅速回复历史资料，绘制统计资讯及量测趋势。