原子力显微镜 - 北京伊微视科技有限公司

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	透明晶圆缺陷扫描Lumina AT2-EFEM	Lumina AT2-EFEM可以在2分钟内完成300毫米晶圆的扫描，对于基底上下表面的颗粒、凸起、凹陷、划痕、内含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半导体如氮化镓、砷化镓、碳化硅等样品上有独特的优势。也可用于薄膜涂层的成像厚度变化的全表面扫描。 *大样品300 x 300 mm。
	透明晶圆缺陷扫描Lumina AT2	Lumina AT2可以在3分钟内完成300毫米晶圆的扫描，对于基底上下表面的颗粒、凸起、凹陷、划痕、内含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半导体如氮化镓、砷化镓、碳化硅等样品上有独特的优势。也可用于薄膜涂层的成像厚度变化的全表面扫描。 *大样品300 x 300 mm。
	透明晶圆缺陷扫描Lumina AT1	Lumina AT1可以在4分钟内完成150毫米晶圆的扫描，对于基底上下表面的颗粒、凸起、凹陷、划痕、内含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半导体如氮化镓、砷化镓、碳化硅等样品上有独特的优势。也可用于薄膜涂层的成像厚度变化的全表面扫描。 *大样品300 x 300 mm。
	超景深显微系统LY-WN-YH 8500	数码显微镜自发明以来景深小，只能平面观察图像清晰度不足、局部高、低反光无法正确观测显微视场小等问题，一直限制着生产、科研中显微镜的使用，常规方法面临以下问题。1、常规图像传感器清晰度不足造成细节丢失:图像亮度不均匀，高亮部分和低暗部分造成局部不清晰或图像失真。2、图像合成过程中，产生噪点、彩纹、位移(边缘不清，锯齿状) 导致图像整体失真。3、图像合成过程中，导致图片整体质量下降图淡像处理速度过慢，得到好的图像超过5分钟。4、合成图像是平面图像，无法分辨实际样品的高度信息，更无法测量立体尺寸。5、少数国外进口产品价格昂贵，使用成本过高。
	奥林巴斯金相显微镜.	GX53倒置显微镜广泛应用于钢铁、汽车、电子及其他制造行业。用户只需将样品倒扣放置在载物台上即可检测抛光金属和切片样品。样品底部无需平整处理，并且尺寸可以较厚、较大、或者较重。 GX53能够提供传统显微镜观察方法难以获得的清晰图像。在配合奥林巴斯Stream图像分析软件使用情况下，该显微镜可让从观察到图像分析及报告的检测流程得到简化。
	Profilm3D白光干涉轮廓仪	Filmetrics的 Profilm3D/Profilm3D-200让3D光学轮廓测量的价格变得更加能够接受。Profilm3D使用先进的垂直干涉扫描(WLI)与高精度的相位干涉(PSI)技术。以***的价格实现次纳米级的表面形貌研究。
	布鲁克大样品台AFM Dimension	Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的AFM应用体验，其测试功能强大，操作简便易行。仍然以世界上应用广泛的AFM大样品平台为基础，齐集Dimension系统数十年的技术经验，广大客户反馈，结合工业领域的设备需求，进行革新。全新的系统设计，实现了*的低漂移和低噪音水平，现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。Dimension Icon还配备了Bruker技术ScanAsyst(自动扫描成像模式)，用户可以简易快捷地获得重复性更好的数据，并且降低了对客户操作经验和操作水平的要求。作为目前配置*高的AFM，保证客户高效完成所需的检测任务。
	Zygo ZeGage ProHR桌面式光学轮廓测量仪	Zygo ZeGage Pro光学轮廓仪是用于3D形貌定量测试，和精密机械表面粗糙度检测的理想非接触式检测工具。它工业化的设计提供快速，**的测量方案，并且外形紧凑、性价比高，能够放在生产车间工作，而不需要振动隔离和特殊的隔离装置。同时交互式的控制软件Mx 提供了简单而精细的图形图像来帮助你的加工处理。
	verifire激光干涉仪	ZYGO致力于保护您在VeriFire干涉仪的长寿命期间的投资。在全球安装了数千套系统，没有其他计量公司接近ZYGO的产品质量和客户满意度记录。质量，多功能性和生产力大化您的投资Zygo公司：光学计量的世界** •我们保证VeriFire系统和组件作为完整解决方案的一部分，符合我们的ISO 9001注册设施 •VeriFire系列旨在实现可扩展性，为新应用和技术提供简便的升级途径 •我们仪器的多功能性和可靠性确保了较低的总体拥有成本 •我们的仪器支持更高的吞吐量和更低的制造成本，*大限度地减少操作员可变性的硬件和软件功。
	TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电镜	新型的 BrightBeam" 镜筒配置了静电-电磁复合透镜，纵贯整个镜筒内部的加速器可以保证电子在整个镜筒内全程处于高能量，减少 Boersch效应。这种设计显著减小了像差，可以很好的提升低电压下的分辨率。此外，加速管本身的屏蔽作用使得电子束不容易受到环境(杂散)磁场的影响。因此，无需施加样品减速偏压，即可实现 50 ev 的低着陆能量，并能获得高质量的图片。扫描线圈和双物镜的相互配合设计，可以提供超大的视野范围，对样品的实时导航也变的轻松而便捷，进而可以快速定位感兴趣区域。
	Zygo NewView 9000 3D 光学轮廓仪	Zygo NewView 9000 3D 光学轮廓仪提供了强大的非接触式光学表面分析的多功能性。它可以容易和快速地测量各种表面类型，包括光滑、粗糙、平坦、倾斜和阶梯式的表面。所有的测量都是无损、快速、无需样品制备的。系统的核心是 ZYGO 相干扫描干涉技术(CSI)，提供了所有放大倍数下亚纳米的精度，并且能够快速测试各种样品表面。
	Nexview NX2 3D全自动光学轮廓仪	Nexview NX2 光学轮廓仪是为更高应用需求设计的，集超精密、先进算法、应用��活性和自动化为一体，*大程度展现了ZYGO相干扫描干涉(CSI)技术的能力。 Nexview NX2 光学轮廓仪采用的是非接触式测量技术，具有亚纳米测量精度（所有放大倍数下），可以更快更好地测量各种样品表面，是一款具有非常高投资回报率的产品。满足各种应用需求，包括平面度，粗糙度和波纹度，薄膜，台阶高度，适用于几乎任何材质表面，因此Nexview NX2是一款不容错过的产品。
	MultiMode-8 高分辨扫描探针显微镜	MultiMode"是世界上受欢迎的扫描探针显微镜，得到客户的高度认可，迄今为止数以万计的MultiMode"扫描探针显微镜已经在全球成功安装使用。其*的超高分辨率完备的仪器性能，的多功能性，以及得到充分验证的表现和实验可靠性，莫定了其在AFM领域的领导地位Bruker作为生命科学和分析仪器领域出色的**，始终致力于为用户提供好的解决方案，总结成功的经验，不断*推出了MultiMode"系列的新型号MultiMode8。使用Bruker新的*技术Peak Force Tapping扫描模式，获得更多的样品信息，操作更简单，性能更优越，大大提高了工作效率。
	MIRA Brochure扫描电镜	TESCAN MIRA是一款超高分辨分析型场发射扫描电镜，配置高亮度肖特基电子枪。镜筒中增加了特殊的透镜- TESCAN 独特的中间镜-能够优化束斑并获得更大的束流，还提供了景深(DEPTH)模式和大视野(Wide-Field”)观察模式，大视野光路(Wide-Field Optics™)技术可以随时为用户提供样品的清晰全景图，帮助客户快速、**的导航到样品上正确的感兴趣区域;景深模式拓展了可聚焦的深度，因此那些需要聚焦深度极大的样品可以在该模式下成像。
	KLA探针式表面轮廓仪P-7	KLA是全球半导体在线检测设备市场的供应商，在半导体、数据存储、MEMS、太阳能、光电子以及其他领域中有着极高的市占率。P-7是KLA公司的第八代探针式台阶仪系统，历经技术积累和不断迭代更新，集合众多技术优势。P-7建立在市场的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。它保持了P-17技术的测量性能，并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。
	KLA探针式表面轮廓仪	KLA是全球半导体在线检测设备市场大的供应商，在半导体、数据存储、MEMS、太阳能、光电子以及其他领域中有着极高的市占率。Alpha-Step" 探针式轮廓仪支持合阶高度和粗度的2D及3D(D-600)轮廓扫描，以及翘曲度和应力的2D测量。*的光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量，大垂直范围和低触力测量功能。
	Dimension FastScan原子力显微镜	为满足 AFM 使用者对提高 AFM 使用效率的需求，Bruker 开发了这套快速扫描系统，不降低分辨力，不增加设备复杂性，不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现了利用 Dimension 快速扫描系统，即时快速得到高分辨高质量图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度>125Hz,还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM 图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术**重新定义了仪器的操作和功能。
	布鲁克Hysitron TriboScope—原位AFM与纳米压痕连用 Hysitron TriboScope	布鲁克Hysitron TriboScope—原位AFM与纳米压痕连用为原子力显微镜提供了使用刚性压头进行定量纳米压痕与纳米摩擦表征的能力。布鲁克Hysitron TriboScope—原位AFM与纳米压痕连用基于布鲁克的Dimensiong Icon,Dimensiong Edge,和Mutimode 8等原子力显微镜平台来拓展其表征能力。通过使用刚性压头，Triboscope一改原来悬臂梁方式测量所固有的局限
	布鲁克Bruker（原veeco）***AFm—Fastscan Dimension FastScan	扫描速度的全新诠释，拥有高的扫描分辨率，优异的仪器检测性能 Dimension FastScanTM原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和*的仪器性能前提下，大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术**，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。
	布鲁克Bruker（原veeco）生物AFm—Resolve BioScope Resolve	布鲁克公司的BioScope Resolve™生物原子力显微镜与倒置光学显微镜联用，实现了高分辨的原子力显微镜成像和完整的细胞力学性质测量。 *PeakForce Tapping技术，每一像素点均有pN级力学测量和力谱分析 BioScope Resolve采用了布鲁克公司独有的PeakForce Tapping技术，使研究者能够获得高分辨率的生物成像和在每一像素点上皮牛级(pN)的力学测量和力谱分析。该系统对光学图像和原子力显微镜数据的实时整合，使以往不可能获得的数据成为了可能。包括物理结构，生化相互作用和力学特性在内的多重信息，为生命科学的深入研究提供了独特的技术平台。

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