布鲁克Hysitron TriboScope—原位AFM与纳米压痕连用
布鲁克的Hysitron TriboScope 为原子力显微镜提供了使用刚性压头进行定量纳米压痕与纳米摩擦表征的能力。Hysitron TriboScope基于布鲁克的Dimensiong Icon,Dimensiong Edge,和Mutimode 8等原子力显微镜平台来拓展其表征能力。通过使用刚性压头，Triboscope一改原来悬臂梁方式测量所固有的局限，不可控和复杂性，在纳米至微米尺度内提供定量而重复的机械性能与摩擦学表征。
TriboScope通过**的测试模式来加速您的研究
准静态纳米压痕：测定特定微区、界面、表面精细图案和薄膜以下参量：杨氏模量，硬度，蠕变，应力弛豫和断裂韧性。
原位扫描探针显微镜成像：使用同一测试探头实现实验与成像在位置上纳米级的精准定位，以及试验后材料形变行为的表征。
扫描磨损：在样品表面施加用户定义的载荷，通过压头的逐行往复式扫描摩擦，实现纳米级别的磨损定量分析。
纳米划痕：利用布鲁克专有的二维侧向力传感技术，实现耐划耐刮、摩擦系数和薄膜结合力的定量测量。
NanoDMA Ⅲ—动态纳米压痕：利用布鲁克nanoDMA Ⅲ的选件，实现弹塑性、粘弹性，性能随不同压入深度、频率、时间等参量变化的连续测量。
定量，可靠，可重复
TriboScope 搭载于业界**的布鲁克原子力显微镜系统上。
刚性压头的优势
几乎所有的AFM都使用悬臂实现力学和摩擦学测试，从而导致从材料响应到施加应力上，都不可避免碰到如何将悬臂的弯曲刚度与扭转刚度分离的难题。TriboScope则通过对一套刚性压头装置的直接控制，来实现测试过程中对载荷与位移的精准测量。
静电驱动
TriboScope采用专有的静电力驱动和电容位移传感器来实现业界**的超低噪音水平和超低的温度漂移，从而在纳米级别表征材料性能。
力与位移反馈控制
TriboScope可通过闭环力控制或者位移控制。采用高达78kHz的反馈速率，TriboScope可及时捕获材料高速变形时转瞬即逝的现象，并且可靠地重现用户定义的测试条件。
TS 75是一个完全集成的AFM附件，打破了传统纳米机械测试的限制。 TS 75的性能更加优异，提高了测试速度，研究人员将能更轻松的驾驭该纳米机械测试设备：
•获得定量机械性能
•较软的材料测试结果更加可靠
•对较小体积的材料可实现准确的测试
•更快的得到测试结果
原位SPM成像
TS 75的原位SPM成像能力对于**的定位和显微结构识别至关重要。原位图像通过样品表面扫描压头探针获得，定位精度为10nm。该技术可轻松的压痕前后的成像，不再需要成像仪器辅助重新定位。力和位移测试结果与原位图像相结合，提供了****的材料的变形和机械性能的信息。
TS 75纳米机械测试仪器由数字控制器TriboScope®驱动，提供****的性能和行业**的灵敏度。TriboScope具有比标准控制器低30 nN的噪音和约80倍的反馈控制。 Hysitron电容式传感器的紧凑设计使其能够通过适当的调整与大多数商业AFM连接。 Hysitron传感器代替AFM检测器组件，并提供用于成像的形貌反馈。利用相同的压头探针获得原位SPM图像进行纳米压痕实验，保证了定量和可重复的数据。
此外，传感器使用刚性压头探头，使得力和位移测量的定量比用悬臂的探针系统制造的定量更精准，因为有悬臂的探针系统在测试过程中有更多不确定因素。
TS 75还支持新的RAPIDprobeTM传感器，与传统的标准电容式传感器相比，它提供了更高的灵敏度，更高的机械带宽和10倍速度SPM成像。 TS 75是当今市场上性能*好的纳米力学测试仪器。
标准配置
测量模式 准静态纳米压入，原位扫描探针成像，扫描磨损
正压力 *大值：10mN 噪音水平<30nN 分辨率：1nN
法向位移 *大值 ：5μm 噪音水平<0.2nm 分辨率：0.006nm 漂移率：<0.05nm/sec
选件
Nano DMA Ⅲ
测试模式 动态纳米压入，准静态纳米压入，原位扫描探针成像，扫描磨损
动态规格 频率范围：0.1Hz-300Hz 动态力幅值*大值：5mN 动态位移幅值*大值：2.5μm
纳米划痕
测试模式：纳米划痕，准静态纳米压入，原位扫描探针成像，扫描磨损
侧向测试规格：位移*大值：15μm 位移噪声水平<2nm 力*大值：2mN 力噪声水平：<10μN
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