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产品资料

纳米压痕仪与TEM连用——布鲁克Hysitron PI 95

纳米压痕仪与TEM连用——布鲁克Hysitron PI 95
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:纳米压痕仪与TEM连用——布鲁克Hysitron PI 95
  • 产品型号:布鲁克Hysitron PI 95
  • 产品展商:布鲁克
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简单介绍
纳米压痕仪与TEM连用——布鲁克Hysitron PI 95——在您TEM中实现定量纳米力学测试 纳米压痕仪与TEM连用——布鲁克Hysitron PI 95 **套为TEM设计的*完备的深度传感压头;测试模式包含压入、压缩、拉伸、弯曲和划痕;特别为主流TEM型号(FEI, Hitachi, JEOL,Zeiss)而设计,实现**互动。
产品描述

纳米压痕仪与TEM连用——布鲁克Hysitron PI 95

 

Hysitron PI 95 TEM PicoIndenter-——在您TEM中实现定量纳米力学测试

**套为TEM设计的*完备的深度传感压头;测试模式包含压入、压缩、拉伸、弯曲和划痕;特别为主流TEM型号(FEI, Hitachi, JEOL,Zeiss)而设计,实现**互动。

 

海思创纳米压痕 SEM/TEM原位定量纳米力学—PI 系列 PicoIndenters

Hysitron PI 系列—原位定量纳米力学

作为纳米力学测试系统的全球***,布鲁克的Hysitron PI系列—PicoIndenter,使您可以在您的电镜中轻松实现原位力学实验。我们独特的传感器设计使得在整个实验中有无可比拟的稳定性,保证即使在纳米级别亦能获取精准数据。电镜的视频捕获功能可实现实时监控,并可与力学数据实现同步。配合在用的许多电镜品牌而设计,您肯定可以找到一款满足您研究所需的理想解决方案。

 

轻松搭载定量纳米力学测试

深入了解纳米尺度下的力学性能

在您实验室已有的熟知仪器上获取力学数据。在您电镜上扩展如下功能,包括:

1. 纳米压痕微悬臂弯曲

2. 微柱或微颗粒压缩

3. 拉伸测试

4. 纳米划痕

 

与电镜实时成像相配合,上述测试使您可以从纳米到微米尺度直接观察缺陷、机械应变和温度或电学信号对工程材料性能、寿命和耐久性的影响。

 

整个实验过程中始终如一的稳定性

布鲁克的原位解决方案专为电镜环境下的出众性能而设计。真空相容性、检测器定位和机架柔度等相关因素均被严格考虑。我们专属的传感器技术确保实验过程中精细纳米力学测量所需的灵敏度和稳定性,而数位控制器提供了超快的反馈和数据采集率。因而应力诱发变形过程之前、之中和之后都得以高速捕获加以分析。

 

Hysitron PI 95 TEM PicoIndenter-在您TEM中实现定量纳米力学测试

布鲁克的Hysitron PI 95是**套为TEM设计的*完备的深度传感压头,可以在透射电镜中直接观察纳米力学测量过程。通过这一斜插仪器,不仅可以实现观察监控材料在纳米尺度的力学响应,而且实时获取载荷-位移曲线数据。此外,通过视频接口,可以实现载荷-位移曲线与对应透射电镜视频在时序上的完全同步。

 

实验控制

 

TEM中配合纳米力学测量系统使得研究者可以由因及果的决定某些实验参量,如化学组分中的变量或试样中预先存在的缺陷等。除成像外,选区衍射可以用来判断样品取向和加载方向。从而,在原位力学测试其形变现象时实时观测而无需等待事后。两种高清技术的结合可呈现两个世界,臻于**。

 

****的性能

 

Hysitron PI 95使用三种层级的压头定位和力学测试。除三轴粗定位和一个三维压电陶瓷驱动的精细定位外,它还配备有一套静电驱动和电容位移感知的传感器。目前有两种传感器供选择:一套**设计小型化的传感器(仅供JEOL系统使用)和一套**设计的MEMS传感器。通过这些传感器,可原位采集定量化的载荷-位移曲线。

与其他依靠开环、压电控制和系列加载的压入机制不同,Hysitron PI 95 传感器提供精准的深度感知能力,而前者不可避免的在载荷-位移曲线中引入某些假象。而由于布鲁克传感器的静电驱动特性,可实现持续施加较大载荷而不必担心损失其灵敏度。

 

Hysitron PI系列测试模式

纳米压痕

形变实时观测

旨在精准定位,进行硬度、弹性模量的试验,同时观测材料变形过程。

 

纳米压痕与EBSD(电子背散射衍射)结合

与这一高空间分辨技术的结合可对金属和合金的全微区结构进行表征。通过测量单颗晶粒的硬度和模量,结合到EBSD图谱来关联取向与力学性能的关系。

 

微柱和颗粒的压缩

悬臂梁和微臂弯曲

探测、弯曲、施加应力、测量

拉伸试验

TEM PicoIndenter 规格

 

特性

Hysitron PI 95

Hysitron PI 95

FEI / Hitachi / Zeiss TEMs

仅适合于JEOL TEM

 

*大载荷

1 mN

1.5 mN

载荷噪音

<0.2  N

<0.2  N

*大位移

1  m

4  m

位移噪音

<1 nm

<1 nm

反馈控制速率

78 kHz

78 kHz

*大数据采样率

39 kHz

39 kHz

样品**定位XYZ移动范围

50  m / 50  m / 3  m

50  m / 50  m / 3  m

样品**定位XYZ移动精度

2 nm / 2 nm / 0.1 nm

2 nm / 2 nm / 0.1 nm

样品粗定位XYZ移动范围

750  m / 750  m / 5000  m

750  m / 750  m / 5000  m

 

 

 

 

 

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