Chroma

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苏州天仪科创机电科技有限公司
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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	触碰面板多点半自动测试机 Model 3813	Model 3813 触碰面板多点半自动测试机
	SD Card 测试分类机 Model 3280	Chroma 3280整合了测试机台与自动分类机的功能，并采用**的设计，满足采用KGD生产的SD 卡类产品的测试需求，不论是在机台的成本或是体积上，都比传统的测试机台来的大幅降低，因此也就能够相对地大幅降低测试的成本。
	自动化系统功能测试机 Model 3260	Chroma 3260以并排平行方式，进行测试。在高温下具有自动温度冷却(ATC)功能，其范围从摄氏50度到125度可测试1至6个测试座。
	自动化系统功能测试机 Model 3240	Chroma 3240以并排平行方式，进行测试。在高温下具有自动温度冷却(ATC)功能，其范围从摄氏50度到125 度可测试1至4个测试座。
	终端测试分类机 Model 3160	3160/3160-A有着高可靠性的处理机制可依据测试需求支援各种不同类型封装的晶片，且能与通用生产治具相容，顺畅的自动化技术满足高产能和低Jam Rate的量产要求。此外，可调式的压测力和位置校正以及各种感应装置可降低待测物发生突如其来的损坏，和帮助延长socket的使用期，同时保持或提升产能的良率。
	四象限直流电源供应模块 Model 36020	应用范围 Logic and mixed signal validation and test Consumer IC and electronics test DUT Power Supply
	可程控逻辑脚位模块 Model 36010	应用范围 Logic and mixed signal validation and test Digital pattern generator and vector capture Consumer IC and electronics test Logic test subsystem for DC and RF ATE
	SoC 测试系统 Model 3650	平行测试功能 Chroma 3650可在一个测试头中，提供多512 个数位通道，并具备高产能的平行测试功能，高可同时测试32 个待测晶片，以提升量产效能。在Chroma 3650中，每片单一的LPC板拥有 64个数位通道，并结合具备高效能基础的Pin Function (PINF) IC，每一颗 PINF IC 具备4 个数位通道的时序产生器，以提供50ps 以内的精准度。
	VLSI 测试系统 Model 3380-P	Model 3380-P VLSI 测试系统
	VLSI 测试系统 Model 3360	Model 3360 VLSI 测试系统
	VLSI 测试系统 Model 3360-P	Model 3360-P VLSI 测试系统
	VLSI 测试系统 Model 3360-D	Model 3360-D VLSI 测试系统
	光伏自动化生产设备 Model MAS 光伏自动化生产设备	CIM的数据整合：提供PLC数据的LOG文件传输，将生产的数据作整合，让客户的CIM能作有效的分析及作有效率的改善，让产线的良率及产能作更好的提升
	光伏电池片背面印刷暨表面脏污检测机 Model 7213-AD	光伏电池片的背面印刷瑕疵可能会造成外观瑕疵或者可靠度表现上的**影响。在所有的背面印刷瑕疵之中，非正常丝网印刷过程所产生的铝凸，将会在模组封装过程之中造成极高的破损率。Chroma 7213-AD背面印刷暨表面检测机应用了特殊光源设计来侦测常见的背面印刷瑕疵，甚至是铝凸瑕疵。
	光伏电池片正面印刷暨表面脏污检测机 Model 7212-HD	光伏电池片的正面印刷瑕疵可能会造成外观瑕疵或者可靠度表现上的*影响。因此，像是"主栅线的银浆缺失"、"栅线断栅"、"印刷偏移"、"水痕"等，皆需要透过可信赖且高准确性的光学检测仪器(AOI)来进行筛选，以保持出货电池片的高品质
	光伏电池片颜色分选机 Model 7211-D	Chroma 7211-D是为了提供高度重复性的电池片分色结果而设计的。由于使用了CIE 1931 Lab的色彩空间以及将电池片分割成至多60X60的颜色检测区域，7211-D可以提供将近3600个区域的颜色资讯，供颜色分选时候的参数设定使用。透过各种颜色资讯以及使用者自订的分色方法，即使是像多晶时候的非均匀颜色分布，或者是非均匀的抗反色层厚度，都可以被精准的定义出来
	光伏硅片线锯痕检测机 Model 7231	切割线锯痕是由于切割时候的杂质影响或者是切割线振动所造成的。有时候发生在边缘而也有可能发生在硅片中间的位置。由于Chroma使用EN 50513 2009的检测手法来进行光学设计，所以即使是发生在硅片中央位置的切割线锯痕，也可以正确检测无误。
	光伏硅片品质检测机 Model 7202	为了提供*高重复性的晶格尺寸检测结果，Chroma在7202上头使用了独特的光学设计来强化晶格特征。而当晶格尺寸可以被量化之后，分类好的硅片就可以套用于不同的生产工艺，拿来在不同的电池片生产线进行生产，藉以提高电池片生产时候的平均转换效率。
	光伏硅片外观暨表面脏污检测机 Model 7201	Chroma 7201可用来检测硅片长度、宽度、对角线、边缘夹角、导角尺寸以及导角角度等，同时也可以检测表面瑕疵。设计完善的软体以及操作介面可供使用者设定不同的检测参数来达到检测结果，同时也提供瑕疵显示以及储存功能来留待日后进行MES/CIM的分析以及整合。
	series 光伏电池与模块 I-V 测试系统 Model 53310	I-V 测试是各式 P V 技术中，包括晶矽电池/ 模组、Si-base、 CIGS、CdTe、TF 模组、GaAs-base 多接点电池等中*常用的测试。在各种不同的光伏电池技术中，仅有的两个差异为 : 日光模拟光源的照射区和强度，以及 I-V 测试仪电压/电流和功率范围。

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