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产品资料

菲希尔x-ray荧光光谱仪

菲希尔x-ray荧光光谱仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:菲希尔x-ray荧光光谱仪
  • 产品型号:FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230
  • 产品展商:德国菲希尔fischer
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230是德国菲希尔fischer公司XDL系列机型中性价比*高的一款,相比XDL-210*主要的优势在于X轴和Y轴方向可以手动调节,大大方便了测量的便捷性。菲希尔x-ray荧光光谱仪XDL-230还可以通过可编程XY工作台与Z轴(可选)实现自动化的批量测试。XDL-230菲希尔x-ray荧光光谱仪以优异的性能被选为国内各省电科院/国家电网技能比武指定使用机型。
产品描述

菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230射线荧光仪器可配备多种硬件组合,可完成各种测量任务,由于测量距离可以调节(*大可达 80 mm),适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件。使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器,非常适用于测量超薄镀层(XDAL 设备)。



菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230设计理念:

1,FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用户界面友好的台式测量仪器。手动操作的X-Y工作台,马达驱动的 Z 轴系统。

2,高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能,可以精-确定位测量位置。通过视频窗口,还可以实时观察测量过程和进度。

3,测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计,由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如:大型的印制电路板。

4,带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放,并且允许测量点的精-确调整。

5,所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能强大而界面友好的 WinFTM ® 软件在电脑上完成。

6,XDL 型镀层测厚及材料分析仪作为受完全保护的仪器,型式许可完全符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。



菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230基本应用:

1,镀层厚度测量

大型电路板与柔性电路板上的镀层测量

电路板上较薄的导电层和/或隔离层

复杂几何形状产品上的镀层

铬镀层,如经过装饰性镀铬处理的塑料制品

氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量

2,材料分析

电镀槽液分析

电子和半导体行业中的功能性镀层分析


菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控,典型的应用领域有:

•  测量大规模生产的电镀部件

•  测量超薄镀层,例如:装饰铬

•  测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

•  测量印刷线路板

•  分析电镀溶液

XDL230 有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了 FISCHER 完全基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。



菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230规格概述:

1、通用规格

  a,设计用途:能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF), 用于测定超薄镀层和溶液分析。

  b,元素范围:从元素 氯(17) 到 铀(92),配有可选的 WinFTM® BASIC 软件时,*多可同时测定 24 种元素。

  c,设计理念  台式仪器,测量门向上开启

  d,测量方向  由上往下

2、X射线源

  a,X 射线管:带铍窗口的钨管

  b,高压:三档30 kV,40 kV,50 kV

  c,孔径(准直器):Ø 0.3 mm 可选:Ø 0.1 mm; Ø 0.2 mm;长方形 0.3 mm x 0.05 mm

  d,测量点尺寸:取决于测量距离及使用的准直器大小,实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致*小的测量点大小约Ø 0.2mm

3、X射线探测

  X 射线接收器:比例接收器

  测量距离:0 ~ 80 mm,使用砖利保护的 DCM 测量距离补偿法

4、样品定位

  a,视频系统:高分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置,手动聚焦,对被测位置进行监控,十字线(带有经过校准的刻度和测量   点尺寸),可调节亮度的LED照明,激光光点用于精-确定位样品。

  b,放大倍数:40x–160x

5、电气参数

  电源要求:220 V ,50 Hz

  功率:*大 120 W(不包括计算机)

  保护等级:IP40

6、尺寸规格

  外部尺寸:宽×深×高[mm] 570×760×650

  内部测量室尺寸:宽×深×高[mm] 460×495x(参考“样品*大高度”部分的说明)

  重量:107 kg

7、环境要求

  使用时温度:10°C – 40°C

  存储或运输时温度:0°C – 50°C

  空气相对湿度:≤ 95 %,无结露

8、工作台

  设计:手动 X/Y 平台

  X/Y 平台*大移动范围:95 x 150 mm

  可用样品放置区域:420 x 450 mm

  Z 轴:马达驱动

  Z 轴移动范围:140 mm

  样品*大重量:20kg

  样品*大高度:140 mm

  激光(1 级)定位点:有

9、计算单元

  a,计算机:带扩展卡的 Windows ® 计算机系统

  b,软件:标准: WinFTM ® V.6 LIGHT、可选: WinFTM ® V.6 BASIC,PDM,SUPER

  10、执行标准

  a,CE合格标准:EN 61010

  b,型式许可:作为受完全保护的仪器,型式许可完全符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。



菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230订货号:

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230  604-496

如有特殊要求,可与FISCHER 磋商,定制特殊的XDL型号。

FISCHERSCOPE ® ; XDL ® ; WinFTM ® ; PDM ® 是 Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen–Germany的注册商标。

其他检测仪器:瑞典兰宝紫外线灯、铁素体含量检测仪。


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