X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210又名X 射线荧光光谱仪，采用手动或自动方式，测量和分析印刷线路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本
参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析
和测量。多可同时测量从氯（17）到铀（92）中的24 种元素。
XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。
XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。
X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的应用领域有：
测量大规模生产的电镀部件
测量薄镀层，例如装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
全自动测量，如测量印刷线路板
分析电镀溶液
X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210设计理念
FISCHERSCOPE
X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样
品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际
应用的需求。
XDL210：平面样品平台，固定的Z 轴系统
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以精-确定位测量位置。通过视频
窗口，还可以实时观察测量过程和进度。配有马达驱动X-Y 样品平台的仪器还配备了
激光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。
测量箱底部的开槽专为大而扁平的样品设计，可以测量比测量箱更长和更宽的样品。
例如大型的线路板。
所有的操作，测量数据的计算，以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友
好的WinFTM®软件在电脑上完成的。
XDL 型光谱仪是安-全而保护**的测量仪器，型式许可符合德国“Deutsche
Röntgenverordnung-RöV”法规规定。
X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210通用规范
用途
能量色散X 射线荧光光谱仪 (EDXRF) 用来测量薄镀层和微小结构，分析合金和微量组分。
元素范围 多同时测量从氯（Cl 17）到铀（U 92）之间的24 种元素
设计理念 台式仪器，测量门向上开启
测量方向 从上到下
X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210X 射线源
X 射线源 带铍窗口的钨管
高压 三种高压： 30 kV，40 kV，50 kV，可调整
孔径（准直器） Ø 0.3 mm (可选：圆形Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；长方形0.3 mm x 0.05 mm)
测量点
取决于测量距离及使用 的准直器大小；实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致。
小的测量点大小约Ø 0.16mm.
测量距离，如测量腔体内部
0 ~ 80 mm，未校准范围，使用保护的DCM 功能
0 ~ 20 mm，已校准范围， 使用保护的DCM 功能
X 射线探测
X 射线接收器 比例接收器
样品定位
视频显微镜
高分辨 CCD 彩色摄像头， 用于查看测量位置
手动调焦或自动聚焦
十字线刻度和测量点大小经过校准
测量区域照明亮度可调
激光点用于精-确定位样品
放大倍数 20x ~ 180x
(光学变焦: 20x ~ 45x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
样品台 XDL 210
设计 固定式样品平台
-大移动范围 -
X/Y 平台移动速度 -
X/Y 平台移动重复精度 -
Z 轴移动范围 -
可用样品放置区域 463 x 500 mm
样品-大重量 20 kg
样品-大高度 155/90/25 mm
激光定位点 -
FISCHERSCOPE
X-RAY XDL
镀层厚度 材料分析 显微硬度 材料测试
电气参数
电压，频率 AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
功率 -大 120 W (不包括计算机)
保护等级 IP40
X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY
XDL-210仪器规格
外部尺寸 宽x 深x 高[mm]：570 x 760 x
650
重量 XDL210：90 kg；XDL220：95 kg ；XDL230：105 kg；XDL240：120 kg
内部测量室尺寸 宽x 深x 高[mm]: 460 x 495 (参考“样品-大高度”部分的说明)
环境要求
操作温度 10°C – 40°C / 50°F – 104°F
储藏或运输温度 0°C – 50°C / 32°F – 122°F
空气湿度 ≤ 95 %，无结露
计算系统
计算机 带扩展卡的计算机系统
软件
标准： WinFTM® V.6
LIGHT
可选： WinFTM® V.6
BASIC，PDM，SUPER
X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY
XDL-210执行标准，CE 合格标准 EN 61010
X 射线标准 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568
型式许可
安-全而保护**的测量仪器，型式许可符合德国“Deutsche
Röntgenverordnung-RöV”
法规规定。
如有特殊要求，可于Fischer 磋商，定制特殊的XDL 型号。
