日本J-RAS在线测试装置 - 深圳市世纪天源仪器有限公司

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	ECM-100离子迁移试验装置 ECM-100	可对离子迁移・绝缘电阻值进行高精度・高信赖性・高效率的评价。从当今的地球・市场环境来看，省能源・铅/无卤素・小型轻量・低价格・高信赖等观点出发的，新素材・新实装方法的研究开发・评价方法的重估是必须的。 J-RAS公司把握市场的需要，为您提供容易操作而且可以进行高信赖性评价试验的，新时代离子迁移实验装置 ECM-100系列。简介：离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（BIAS VOLTAGE）,经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ION MIGRATION）,并记录阻抗变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ION MIGRATION TESTING）适用规格：JPCA-ET01-2001
	导通电阻可靠性评估装置 RTm-100/240-n	导通电阻可靠性评估装置瞬间断线检出装置高速（100s）检出电阻的变化，并且，能够进行大范围多通道同时连续测试。可与温度循环试验箱构成系统进行电阻测试。主要用途如下：焊球初期测试。振动条件下，接插件的接触测试。继电器、开关的颤动检出。
	RTm导通电阻可靠性评价装置 RTm-100/96-n	RTm导通电阻可靠性评价装置瞬间断线检出装置高速（100s）检出电阻的变化，并且，能够进行大范围多通道同时连续测试。可与温度循环试验箱构成系统进行电阻测试。主要用途如下：焊球初期测试。振动条件下，接插件的接触测试。继电器、开关的颤动检出。
	ECM离子迁移测试装置 ECM-100/40-n	ECM离子迁移测试装置是一种依赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（BIAS VOLTAGE），经过长时间的测试（1~1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ION MIGRATION），并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，
	离子迁移实验装置 ECM-100/100-n	离子迁移试验装置是一种依赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（BIAS VOLTAGE），经过长时间的测试（1~1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ION MIGRATION），并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

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