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产品简单介绍
ECM-100离子迁移试验装置
ECM-100
可对离子迁移・绝缘电阻值进行高精度・高信赖性・高效率的评价。 从当今的地球・市场环境来看,省能源・铅/无卤素・小型轻量・低价格・高信赖等观点出发的, 新素材・新实装方法的研究开发・评价方法的重估是必须的。 J-RAS公司把握市场的需要,为您提供容易操作而且可以进行高信赖性评价试验的, 新时代离子迁移实验装置 ECM-100系列。 简介:离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流 电压(BIAS VOLTAGE),经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的 现象发生(ION MIGRATION),并记录阻抗变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是OPEN/SHORT试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。(ION MIGRATION TESTING) 适用规格:JPCA-ET01-2001
导通电阻可靠性评估装置
RTm-100/240-n
导通电阻可靠性评估装置瞬间断线检出装置 高速(100s)检出电阻的变化,并且,能够进行大范围多通道同时连续测试。 可与温度循环试验箱构成系统进行电阻测试。主要用途如下: 焊球初期**测试。 振动条件下,接插件的接触**测试。 继电器、开关的颤动检出。
RTm导通电阻可靠性评价装置
RTm-100/96-n
RTm导通电阻可靠性评价装置瞬间断线检出装置 高速(100s)检出电阻的变化,并且,能够进行大范围多通道同时连续测试。 可与温度循环试验箱构成系统进行电阻测试。主要用途如下: 焊球初期**测试。 振动条件下,接插件的接触**测试。 继电器、开关的颤动检出。
ECM离子迁移测试装置
ECM-100/40-n
ECM离子迁移测试装置是一种依赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压(BIAS VOLTAGE),经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生(ION MIGRATION),并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,
离子迁移实验装置
ECM-100/100-n
离子迁移试验装置是一种依赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压(BIAS VOLTAGE),经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生(ION MIGRATION),并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是OPEN/SHORT试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。
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