ECM离子迁移测试装置 ECM-100 40-n 深圳市世纪天源仪器有限公司

ECM离子迁移测试装置

如果您对该产品感兴趣的话，可以
产品名称：ECM离子迁移测试装置
产品型号：ECM-100/40-n
产品展商：日本J-RAS
产品文档：无相关文档

简单介绍

ECM离子迁移测试装置是一种依赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（BIAS VOLTAGE），经过长时间的测试（1~1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ION MIGRATION），并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，

产品描述

ECM离子迁移测试装置
可对离子迁移绝缘电阻值进行高精度、高信赖性、高效率的评价。

从当今的地球、市场环境来看，省能源、铅/无卤素、小型轻量、低价、高依赖等观点出来的，新素材、新实装方法的研究开发、评价方法的重估是必须的。

简介：离子迁移实验装置是一种依赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（BIAS VOLTAGE），经过长时间的测试（1~1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ION MIGRATION），并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

产品留言

标题

联系人

联系电话

内容

验证码

点击换一张

注：1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!

温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买前务必确认供应商资质与产品质量。
免责申明：以上内容为注册会员自行发布，若信息的真实性、合法性存在争议，平台将会监督协助处理，欢迎举报

产品目录

产品资料

ECM离子迁移测试装置