可对离子迁移・绝缘电阻值进行高精度・高信赖性・高效率的评价。
从当今的地球・市场环境来看，省能源・铅/无卤素・小型轻量・低价格・高信赖等观点出发的，
新素材・新实装方法的研究开发・评价方法的重估是必须的。
J-RAS公司把握市场的需要，为您提供容易操作而且可以进行高信赖性评价试验的，
新时代离子迁移实验装置 ECM-100系列。
简介：离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流
电压（BIAS VOLTAGE）,经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的
现象发生（ION MIGRATION）,并记录阻抗变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ION MIGRATION TESTING）
适用规格：JPCA-ET01-2001
项目
规格・性能・其他
筺 体
型式
ECM-100/40-n (n:Channel数)
ECM-100/100-n (n:Channel数)
筺体型式
40CH型（*大4计测组合）
100CH型（*大10计测组合）
筺体寸法
265W×330.3D×405H（突起部除外）
417.4W×330.3D×405H（突起部除外）
消費电力
大约70VA（4计测组合实装時）
大约130VA（10计测组合实装時）
重量
大约16kg（4计测组合实装時）
大约25kg（10计测组合实装時）
使用电源
AC100V 50/60Hz
计测 组合
计测Channel数
10CH
计测电阻值范围
2kΩ～10TΩ
DCbias印加
电压范围
2范围 （1.0～30.0V，30.1～300.0V）
电压范围设定
1组（5CH）
电压级别设定
Channel个别
设定分解能
0.1V
设定精度
±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V
*大输出电流
700μA／CH
DCbias计测
计测范围
2范围（0～33V、0～330V）
计测精度
计测分解能
0.1V～（整数+小数点以下１行表示）
AD转换器
24bits⊿∑AD转换器／CH
计测速度
16msec／10CH
电流计测
计测方式
CHANNEL个别HIGH-SIDE电流计测方式
5范围（～500μA，～50μA，～2.5μA，～125nA，～6.25nA）
计测范围设定
CHANNEL个别指定 或者 自动范围
±0.3％（F.S.）
1pA～（有効数字4行表示）
16msec／100CH
Ｃ Ｐ Ｕ 组合
制御Channel数
5～100CH（5Channel単位）
数据收录
试验制御単位
试验设定小时
1分～9999小时
收录间隔（定期）
1分～60分
收录间隔（ECM发生時）
16msec
记录媒体
Compact flashcard
其他
主PC通信机能
LAN接触口×1
环境试验机通信机能
RS-232C接触口×2
外部输入1
接点输入×4 （联动装置，紧急停止制御可）
外部输入2
电压输入(1-5V)×2，电流输入(4-20mA)×2 （温度・湿度记录可）
自动校正
bias输出補正，異常leak电流检测
计测线
由于制品的改良・改善，我们可能会对规格和外観等进行変更。敬请原谅。 TRIAXIAL线 （耐热温度：200度，被膜材质：特氟隆树脂）
由于制品的改良・改善，我们可能会对规格和外観等进行変更。敬请原谅。