美国DAKOTA ULTRASONICS公司带A/B扫描功能的超声波测厚仪MX2-DL,能够满足先进的厚度应用。 符合NIST和MILSTD- 45662A标准。 仪器特点 采用FPGA技术的100Hz数字信号处理器平台设计 1/8英寸VGA灰色显示,240x160象素屏幕,25Hz刷新频率 手动或自动增益控制,根据测量模式选择(50dB增益范围) 内置于探头类型中的线性时间相关增益(TDG) A-扫描(射频、整流)、B-扫描和大数字显示方式 两个独立的门 脉冲-回波(P-E)测量模式和回波-回波(E-E)测量模式 双晶探头 内置4GB SD卡 通过USB Type-C连接到计算机 A/B扫描超声波测厚仪MX2-DL
型号
频率
探头晶片直径
探头防磨面直径
测量范围
说明
T-102-2700
5.0MHz
6.35mm
9.53mm
1.0~152mm
标准高阻抗探头
T-101-2700
4.76mm
1.0~50mm
小管径高阻抗探头
T-101-2000
小管径探头
T-104-0000
1.0MHz
12.7mm
15.88mm
3.8~50.8mm(铸铁中)
铸铁探头
T-104-9700
3.5MHz
2.5~100mm
高阻抗探头
T-102-3300
7.5MHz
0.63~152mm
超薄探头
T-104-2700
1.27~508mm
超厚高阻抗探头
T-104-2000
超厚探头
T-042-2700
标准高温高阻抗探头,*高340℃
T-042-2000
标准高温探头,*高340℃
T-044-2700
超厚高温高阻抗探头,*高340℃
T-044-2000
超厚高温探头,*高340℃
T-212-2001
超高温探头,*高480℃
T-214-2001
超厚超高温探头,*高480℃
注: 测试高温表面时需用高温耦合剂 在回波-回波(穿透涂层)测量模式下,高阻抗探头会有更好的表现 表中的测量范围为脉冲-回波模式测量范围