近红外波前传感器
基于Phasics砖利的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器，提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。
SID4-Swir 光学器件测量 自适应光学
特点：
由于其独特的砖利技术技术，Phasics的SID4-Swir波前传感器具备以下特点：
1.高分辨率：800x64测量点
2.高灵敏密度：整个光谱范围内相位噪声低于2nm
3.消色差：0.9-1.7μm
4.紧凑：易于集成
近红外波前传感器应用：
透镜测试：SID4 SWIR波前分析仪实时测量光学元件MTF和畸变。适用于光通信，夜视和其他**和监视设备。无色差，SID4 SWIR涵盖所有光通信波长。
激光束测试：SID4 SWIR也可以短波红外光源，像1.55μm激光器或用于激光导向系统的LED。
SID4-Swir-HR产品参数：
波长范围
0.9-1.7μm
通光孔径
9.6 x 7.68 mm2
空间分辨率
120 µm
采样点（相位/强度）
80 x 64(> 5 000 points)
相位相对灵敏度
<2nm RMS
相位精度
15nmRMS
动态范围
100μm
采样频率
120 fps
实时分析频率
7fps (full resolution)
数据接口
Giga Ethernet
尺寸(w x h x l)
100 x 55 x 65 mm
重量
455g