BeamAnalyzer刀口式光束质量分析仪
l 12 bit A/D
l 同时高分辨率采样模式
l 实时检测光束质量、尺寸和高斯拟合
l 实时显示光束2D/3D图像
l 测量光束的中心、椭圆度和功率
l Excel数据存储，RS232或TCP/IP数据传输
l 可保存快照图像
l 自动验证分析报告
主要参数：
传感器类型
Si/UV-Si/IR/IRE
光谱范围
Si
UV-Si
IR
IRE
350-1100nm
190-1100nm
800-1800nm
1200-2700nm
刀片数
3（BA3头）
7（BA7头）
光束尺寸范围
BA3-Si和BA3-UV
BA7-Si和BA7-UV(椭圆形)
BA7-Si和BA7-UV（圆形）
BA3-IR3和BA3-IR3-E
BA7-IR3和BA7-IR3-E
BA3-IR5
BA7-IR5
3μm-5mm
15μm-10mm
15μm-9mm
3μm-3mm
15μm-3mm
15μm-5mm
光束宽度分辨率
>100μm
<100μm
1μm
0.1μm
光束宽度精度
±2%
功率范围
Si和UV-Si探头
InGaAs探头
10μW-1W(有衰减片)
10μW-5mW(无衰减片)
功率精度
±5%
±10%
功率分辨率
0.1μW
位置精度
±15μm
位置分辨率
饱和度
0.1W/cm2(无衰减片)，20W/cm2(NG9)
测量速率
5Hz
温度
0℃-35℃
PC接口
USB2.0