Duma光束质量分析仪
DumaDuma Optronics 公司于1989年成立于以色列，是一家专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司。其生产的光束质量分析仪产品类型丰富，功能**。
提供了两种技术的光束质量分析仪：CCD式（BeamOn系列）和刀口式（Beam Analyzer系列）。
CCD式光束质量分析仪：
高分辨率：
高分辨率激光光束质量分析仪（1.4M像素）带有电动光学滤波轮组（软件或者ActiveX控制）。具有12位的动态范围，能对连续光和脉冲光的形状，位置，功率等光束特性进行全方位测量。USB2.0接口，Duma可提供一系列的测量配件，集成的电动滤波轮和三片衰减片，通过滤波轮软件自动调节，可测量从nW到1W不同强度的激光。
砖利技术：
Duma的CCD光束质量分析仪是一种既可以测量连续光也可以测量脉冲光的光束质量诊断设备。具备光束宽度，光束形状，位置，功率，强度分布等多种参数测试能力。使用USB2.0数据且可以用软件控制。通多控制衰减片的倍数多次测量，可以突破动态范围的限制来测量大的动态范围的激光束。这种砖利技术可以测量相对于zui强点1%的功率动态范围分布，这种技术可测量功率密度强点到弱点。
亚微米：
亚微米级别光束质量分析仪为亚微米级别光斑提供了光束分析和图形处理功能。主要应用于CD唱头，激光二极管，和光学元件调整，小直径光束，以及任何需要光束测量的系统。
刀口式光束质量分析仪
独特的砖利技术在不同的交叉角和不同的交叉面对光束空间强度进行断层重建从而测量光束质量。提供了高分辨率光束直径和剖面测量，并能够显示光束功率分布的二维和三维视图。
优点：
高动态范围，高分辨率
实时测量能有效控制光束质量
紫外，可见，近红外宽光谱测量
独特功能
无像差扫描式光学衰减器可测量高功率大动态范围光束
工业解决方案—尺寸小
12位A/D转换器，可实现高分辨率采样
数据通过RS232或者TCP/IP与转换器连接。
产品系列包含：
光斑分析仪，光束质量分析仪型号：
BeamOn WSR UV-NIR (190-1600nm)
BeamOn WSR
BeamOn HR
BeamOn
BeamOn U3
BeamOn 2/3
BeamOn LA
BeamOn Longbow
Beam Analyzer
Beam Analyzer Touch
M2 Beam
uBeam
高功率光斑分析系统型号：
M2 HP - 4 kW
uBeam HP
Beam Analyzer HP
BeamOn HP
位敏探测系统型号：
SpotOn USB 2.0
SpotOn Analog USB
SpotOn Analog
SpotOn LA
SpotOn Mobile
SpotOn Compact
SpotOn CCD
LaserOn
激光准直仪型号：
AlignMeter USB
Electronic Autocollimator
Electronic Autocollimator HR
Laser Analyzing Autocollimator
Laser Analyzing Telescope
AngleMeter LA
AlignMeter LA
u CCD式(BeamOn系列) 标准型价格实惠适用范围广
型号
光谱范围
帧率
分辨率
像元尺寸
靶面尺寸
动态范围
BeamOn-VIS-NIR
350-1310nm
25 fps
720*576
8.6*8.3μm
6.47*4.83mm
60db
BeamOn-UV-NIR
190-1310nm
BeamOn-IR1550
1500-1600nm
Beam U3 VIS
350-1100nm
1936*1216
5.86*5.86μm
11.43*7.12mm
BeamOn U3 VIS NIR
350-1600nm
BeamOn U3 WSR
VIS NIR
NIR
190-1600nm
u CCD式(BeamOn HR高分辨率系列) 适用于小尺寸光斑分析高分辨率探测
BeamOn-HR
15 fps
1392*1040
4.56*4.56μm
BeanOn HR-1550
15fps
BeamOn HR 1''
32μsec-2sec
8288*5644
2.3*2.3μm
19.1*13mm
BeamOn HR 4/3''
5496*3672
2.4*2.4μm
13.2*8.8mm
u CCD式(uBeam小尺寸光斑分析系列) 适用于微米级光斑分析
工作距离
物镜放大倍率
uBeam-X-Ubeam
470k pixel
95 mm
/
4x4μm
X 100
6 mm
x 100
X 50
13 mm
x 50
X 20
20 mm
X 10
33.5 mm
x 10
u CCD式(BeamOn LA U3大孔径光斑分析仪) 适用于大尺寸光斑分析
测量精度
光束直径
BeamOn LA U3
350-1150nm
1920 x 1200
Ø60mm
±2%
⌀5 mm
720 x 576
58 x 45mm
u 刀口式(Beam Analyzer系列高精度刀口式) 连续激光高精度测量
刀口数
孔径
探测器类型
灵敏度
BA3-Si-USB
3
5mm circular
SI
5%
BA7-Si-USB
7
9mm square
BA3-UV-USB
190-1100nm
UV-Si
BA7-UV-USB
BA3-IR3-USB
800-1800nm
3mm circular
InGaAs
10%
BA7-IR3-USB
BA3-IR5-USB
BA7-IR5-USB
BA3-IR3E-USB
1200-1700nm
Enhance
BA7-IR3E-USB
InGaAs Enhance