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尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜,仍可实现4.0 nm的分辨率
凭借特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器(UVD*2),可在低加速/低真空下观察时实现高的画质
全新的用户界面,无论用户的熟练程度如何,都可实现高画质和高处理能力
全新的定位功能“SEM MAP”,支持观察时的视野搜索和样品定位
*1 设置到桌面上时,请将机体与电源盒分离
*2 选项
日立(Hitachi)扫描电子显微镜FlexSEM 1000 II规格:
项目 |
内容 |
分辨率*3 |
4.0 nm(二次电子像、加速电压:20 kV、高真空模式) |
加速电压 |
0.3 kV~20 kV |
倍率 |
×6~×300,000 (照片倍率) |
低真空设置 |
6~100 Pa |
电子枪 |
预对中钨灯丝电子枪 |
样品台 |
3轴马达驱动样品台 |
大样品尺寸 |
直径80 mm(选配:直径153mm) |
大样品高度 |
40 mm |
尺寸 |
机体:450(宽度)×640(进深)×690(高度) mm |
选项 |
高度低真空检测器(UVD2.0) 能量色散型X射线检测器(EDS) |
软件 |
Multi Zigzag(连续视野图像导入功能) |
*PC、桌子、监控器由客户准备
*3机体和电源盒连接时候
*4使用标准支架时