企业信息
第7年
- 入驻时间: 2018-10-13
- 联系人:杨敏
- 电话:13391253866
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联系时,请说明易展网看到的
- Email:yangmin777@163.com
产品详情
简单介绍:
蔡司扫描电镜有不同型号配置能够提供高分辨率的表面信息及材料对比度。它们被广泛运用于电镜科学及应用领域,如纳米技术、材料分析、半导体失效分析、质量控制。蔡司扫描电子显微镜EVO系列SEM可根据用户需求提供EVO10\EVO15\EVO25不同选型方案。
详情介绍:
EVO系列将高性能的扫描电镜和直观的、友好的用户界面体验结合在一起, 同时能够吸引经验丰富的用户以及新用户。无论是在生命科学, 材料科学, 或例行的工业质量力求和失效分析领域,凭借广泛的可选配置, EVO 都可以根据您的要求量身定制。
显微镜中心或工业质量力求实验室的多功能解决方案
不同的真空室大小和可满足所有应用要求的载物台选项-甚至是大型工业零部件样品
使用LaB6灯丝,能够得到更优的图像质量
对不导电和无导电涂层的样品的成像和分析性能出色
可以配置多种分析探测器用于满足各种显微分析应用的需求
蔡司扫描电子显微镜EVO系列SEM特点:
便捷的可用性
SmartSEM Touch可以通过使用您的指尖与其进行交互式工作流程控制。它简单易学, 大大减少了培训所付出的努力和成本,甚至新用户在几分钟内也能够捕捉令人惊叹的图像。此用户界面还支持需要自动化工作流程以执行可重复检查任务的工业操作员。
优的图像质量
EVO 擅长于对未经处理和没有导电涂层的样品获取的数据。EVO 还允许样品保留其原始状态, 维持含水和重污染样品的数据质量。此外当成像和微量分析面临挑战时,选用LaB6灯丝则能够给予更好的分辨率、 对比度和信噪比。
EVO 能够与其它设备相关联
EVO可以作为半自动、多模式工作流程的一部分,通过重新定位感兴趣区域,并以多种方式收集数据,形成信息的完整性。将光学和电子显微镜图像合并起来进行材料表征或零件检验,或者将 EVO 与蔡司光学显微镜相关联,进行关联颗粒度分析。
蔡司扫描电子显微镜EVO系列SEM应用示例:
电子行业:
•目视检查电子元件、集成电路、MEMS 器件和太阳能电池
•铜丝表面及晶体结构的研究
•金属腐蚀研究
•断面失效分析
•Wire bonding线脚检查
•电容表面成像
金属行业:
•对金属样品和夹杂物的结构、化学和结晶学进行成像和分析
•相、颗粒、焊缝和失效分析
加工企业:
•质量分析/质量控制
•失效分析/金相分析
•清洁度检查
•颗粒的形态和化学分析, 以满足 ISO 16232 和 VDA 19 中1和2的标准
•非金属夹杂物的分析
原材料:
•地质样品的形态、矿物学和成分分析
•对金属、断裂和非金属夹杂物的结构进行成像和分析
•微粉化和造粒过程中原料化学成分和活性成份的形态和成分分析
材料科学研究
•用于研究导电和不导电材料样品的特征
显微镜中心或工业质量力求实验室的多功能解决方案
不同的真空室大小和可满足所有应用要求的载物台选项-甚至是大型工业零部件样品
使用LaB6灯丝,能够得到更优的图像质量
对不导电和无导电涂层的样品的成像和分析性能出色
可以配置多种分析探测器用于满足各种显微分析应用的需求
蔡司扫描电子显微镜EVO系列SEM特点:
便捷的可用性
SmartSEM Touch可以通过使用您的指尖与其进行交互式工作流程控制。它简单易学, 大大减少了培训所付出的努力和成本,甚至新用户在几分钟内也能够捕捉令人惊叹的图像。此用户界面还支持需要自动化工作流程以执行可重复检查任务的工业操作员。
优的图像质量
EVO 擅长于对未经处理和没有导电涂层的样品获取的数据。EVO 还允许样品保留其原始状态, 维持含水和重污染样品的数据质量。此外当成像和微量分析面临挑战时,选用LaB6灯丝则能够给予更好的分辨率、 对比度和信噪比。
EVO 能够与其它设备相关联
EVO可以作为半自动、多模式工作流程的一部分,通过重新定位感兴趣区域,并以多种方式收集数据,形成信息的完整性。将光学和电子显微镜图像合并起来进行材料表征或零件检验,或者将 EVO 与蔡司光学显微镜相关联,进行关联颗粒度分析。
蔡司扫描电子显微镜EVO系列SEM应用示例:
电子行业:
•目视检查电子元件、集成电路、MEMS 器件和太阳能电池
•铜丝表面及晶体结构的研究
•金属腐蚀研究
•断面失效分析
•Wire bonding线脚检查
•电容表面成像
金属行业:
•对金属样品和夹杂物的结构、化学和结晶学进行成像和分析
•相、颗粒、焊缝和失效分析
加工企业:
•质量分析/质量控制
•失效分析/金相分析
•清洁度检查
•颗粒的形态和化学分析, 以满足 ISO 16232 和 VDA 19 中1和2的标准
•非金属夹杂物的分析
原材料:
•地质样品的形态、矿物学和成分分析
•对金属、断裂和非金属夹杂物的结构进行成像和分析
•微粉化和造粒过程中原料化学成分和活性成份的形态和成分分析
材料科学研究
•用于研究导电和不导电材料样品的特征
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